B1S-EN B1S B2S B2.25SE?美國(guó)GE保護(hù)膜探頭京海興樂(lè)科技（北京）有限公司公司主要提供UT（超聲）MT（磁粉）PT（滲透）RT（射線）等設(shè)備及周邊耗材
主要經(jīng)營(yíng)品牌：美國(guó)奧林巴斯OLYMPUS（原泛美）、美國(guó)GE（原德國(guó)KK）、美國(guó)磁通Magnaflux
汕超（汕頭超聲）、瑞典蘭寶、美國(guó)SP公司、美國(guó)達(dá)高特、英國(guó)易高、新美達(dá)、德國(guó)MR、船牌、等等

B1S-EN B1S B2S B2.25SE美國(guó)GE保護(hù)膜探頭

歐規(guī)接觸法直探頭

B1S-EN B1S B2S B2.25SE美國(guó)GE保護(hù)膜探頭京海興樂(lè)科技（北京）有限公司公司主要提供UT（超聲）MT（磁粉）PT（滲透）RT（射線）等設(shè)備及周邊耗材
主要經(jīng)營(yíng)品牌：美國(guó)奧林巴斯OLYMPUS（原泛美）、美國(guó)GE（原德國(guó)KK）、美國(guó)磁通Magnaflux
汕超（汕頭超聲）、瑞典蘭寶、美國(guó)SP公司、美國(guó)達(dá)高特、英國(guó)易高、新美達(dá)、德國(guó)MR、船牌、等等

應(yīng)用

用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評(píng)判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)

可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用

用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

接觸法直探頭,帶保護(hù)膜

直探頭要用于手動(dòng)檢測(cè)。應(yīng)用接觸法探傷時(shí)，需要在測(cè)量區(qū)域或多個(gè)測(cè)量區(qū)域涂上薄薄的一層耦合劑，然后直接將探頭放置在被測(cè)物體表面進(jìn)行檢測(cè)。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測(cè)點(diǎn)逐點(diǎn)檢測(cè)，或者在被測(cè)物體表面連續(xù)移動(dòng)探頭來(lái)完成的。

接觸法直探頭, 帶保護(hù)膜探頭

應(yīng)用

•   一般檢測(cè)目的, 簡(jiǎn)單形狀的大零件

•   鍛件, 鑄件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 機(jī)器零件, 殼體

•   高溫檢測(cè)時(shí)帶延遲塊

性能特征

•   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進(jìn)耦合

- 延長(zhǎng)探頭壽命

- 適于DGS缺陷評(píng)定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝, 頂裝可選

•   美款有三種類型的保護(hù):

- 膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合.

- 耐磨帽定期更換可*延長(zhǎng)探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實(shí)現(xiàn)  00°F (  00°C)表面檢測(cè).

- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝

帶保護(hù)膜探頭—歐洲規(guī)格

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜

外殼類型	A		B		C
	mm	in	mm	in	mm	in
類型2	30	1.18	59	2.32	45	1.69
類型3	20	0.79	43	1.77	25	0.98

 

類型	訂購(gòu)號(hào)碼	D		f	N		備注
		mm	in	(MHz)	mm	in
B1S	57744	24	0.94	1	23	0.9
B1S-EN	500035	24	0.94	1	23	0.9	符合 DIN EN 12668-2
B1S-O	57755	24	0.94	1	23	0.9	頂端接口
B2S	57745	24	0.94	2	45	1.8
B2S-EN	500036	24	0.94	2	45	1.8	符合 DIN EN 12668-2
B2S-O	57756	24	0.94	2	45	1.8	頂端接口
B2S-O-EN	500267	24	0.94	2	45	1.8	符合 DIN EN 12668-2 頂端接口
B4S	57746	24	0.94	4	88	3.5
B4S-EN	500037	24	0.94	4	88	3.5	符合 DIN EN 12668-2
B4S-O	57757	24	0.94	4	88	3.5	頂端接口
B4S-O-EN	500268	24	0.94	4	88	3.5	符合 DIN EN 12668-2 頂端接口
B5S	57747	24	0.94	5	110	4.3
MB2S	57748	10	0.39	2	8	0.3
MB2S-EN	500038	10	0.39	2	8	0.3	符合 DIN EN 12668-2
MB2S-O	57975	10	0.39	2	8	0.3	頂端接口
MB4S	57749	10	0.39	4	16	0.6
MB4S-EN	500039	10	0.39	4	16	0.6	符合 DIN EN 12668-2
MB4S-O	57976	10	0.39	4	16	0.6	頂端接口
MB5S	57750	10	0.39	5	20	0.8
MB5S-O	57977	10	0.39	5	20	0.8	頂端接口

可定制特殊規(guī)格

附件

描述	類型	備注
保護(hù)膜 （1套=10片）	ES45(53756) ES24(53769)	用于B..S; 用于MS..S
延遲塊或斜塊	特殊訂單	如用于高溫檢測(cè)
電纜線	PKLL2(50326) MPKL2(50486)	用于B..S; 用于MS..S

帶保護(hù)膜探頭—北美規(guī)格

晶片尺寸		A		B		C
mm	in	mm	in	mm	in	mm	in
13	0.5	19.1	0.75	30.5	1.2	23.9	0.94
19	0.75	25.4	1	30.5	1.2	30.2	1.19
25	1	31.8	1.25	30.5	1.2	36.6	1.44

帶保護(hù)膜探頭—PFCR (側(cè)裝BNC), PFCS (頂裝BNC)

頻率	晶片尺寸Ø		訂購(gòu)號(hào)碼		頻率	晶片尺寸Ø		訂購(gòu)號(hào)碼
(MHz)	mm	in	Gamma 系列PFCR	Gamma 系列PFCR	(MHz)	mm	in	Gamma 系列PFCR	Gamma 系列PFCR
1	13	0.5	241-240	241-260	3.5	13	0.5	243-240	243-260
	19	0.75	251-240	251-260		19	0.75	253-240	253-260
	25	1	261-240	261-260		25	1	263-240	263-260
2.25	13	0.5	242-240	242-260	5	13	0.5	244-240	244-260
	19	0.75	252-240	252-260		19	0.75	254-240	254-260
	25	1	262-240	262-260		25	1	264-240	264-260

注意: 備用保護(hù)膜套裝另售. 可訂制特殊規(guī)格

備用保護(hù)膜套裝—PFCR/PFCS

套裝類型	訂購(gòu)號(hào)碼
	探頭晶片尺寸Ø
	.5in	.75in	1.00in
	(13mm)	(19mm)	(25mm)
PM	118-450-120	118-450-140	118-450-160
PWC	118-450-220	118-450-240	118-450-260
PHTD-1.0in(25.4mm)延遲塊	118-450-320	118-450-340	118-450-260
PHTD-1.5in(38.1mm)延遲塊	118-450-420	118-450-440	118-450-460

PM型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭) 。

PWC型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、三個(gè)防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑（不包括探頭) 。如果對(duì)近表面分辨率要求很高，則不能采用該選項(xiàng)。

PHTD型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、一個(gè)1英寸或1.5英寸長(zhǎng)的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭) 。

	訂購(gòu)號(hào)碼
	探頭晶片尺寸Ø
	.5in	.75in	1.00in
	(13mm)	(19mm)	(25mm)
保護(hù)膜 每包12片	118-220-020	118-220-021	118-220-022
耐磨帽 每包12個(gè)	118-240-123	118-240-122	118-240-121
高溫延遲塊*長(zhǎng)1.0in(25.4mm)	118-440-027	118-440-031	118-440-035
高溫延遲塊*長(zhǎng)1.5in(38.1mm)	118-440-029	118-440-033	118-440-037
BNC 電纜線	118-140-016
保護(hù)膜，耐磨帽 以及延遲塊 耦合劑	118-300-740

*高溫（PHTD）延遲塊：zui高溫度400F，zui大接觸時(shí)間為10秒；重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。

探頭選擇準(zhǔn)則與性能

直探頭---單晶

•   被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•   接觸面或平或曲

•   缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•   適于穿透厚部件

•   延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•   通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•   接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•   缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•   近表面分辨率好，用于較薄部件

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•   通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•   晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上

•   利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•   大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換

•   適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•   有單晶探頭和雙晶探頭

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類

•   有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)

水浸探頭

•   在水中匹配好，效率高

•   適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件

•   通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)

•   耦合*性好，檢測(cè)重復(fù)性高

•   大型零件可以采用探頭架， 溢流法或者水射流法

•   探頭聚焦可以增進(jìn)效果

聚焦的優(yōu)點(diǎn)

•   球面聚焦形成點(diǎn)狀

•   柱面聚焦形成線狀

聚焦優(yōu)勢(shì)

探頭選擇準(zhǔn)則—歐洲規(guī)格

按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。

絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費(fèi)提供全面的性能數(shù)據(jù)表。

性能參數(shù)	解釋
晶片尺寸 D 或 a×b	探頭晶片的直徑D或長(zhǎng)度×寬度a×b。它的尺寸大小對(duì)聲波的傳輸有極大的影響。輕微的偏差，如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減，即使是利用參考缺陷進(jìn)行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評(píng)估誤差。
標(biāo)稱頻率f	所有相同類型探頭的均值頻率，頻率對(duì)反射體的評(píng)定有極大的影響。對(duì)斜反射體，頻率甚至影響聲場(chǎng)波形和反射特性。隨著頻率的增加，非垂直反射體對(duì)聲束的反射回波減小。這就是為什么每一個(gè)探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門(mén)根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè)，以確定其頻率是否與標(biāo)稱頻率相*，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個(gè)數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。
帶寬B	脈沖回波的幅值比zui高幅值下降   dB之間的頻率范圍。B=fo-fu/fx 100%   fo=幅值下降  dB的上限頻率，fu=幅值下降   dB的下限頻率，f為標(biāo)稱頻率。例如，當(dāng)B=100%，一個(gè)4MHz的探頭的fo為6MHz，而fu為2MHz。大的帶寬意味著更短的脈沖回波，也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力，因?yàn)榈皖l脈沖比標(biāo)稱頻率脈沖的衰減小。在高衰減情形下，與標(biāo)稱頻率相比，隨著距離的增加，反射信號(hào)的頻率減小。這一點(diǎn)在進(jìn)行缺陷評(píng)估時(shí)必須要加以考慮。因此每一個(gè)探頭的帶寬都要進(jìn)行檢查，并且與所有探頭的平均值相*，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。
焦距F	F：小缺陷產(chǎn)生zui大回波時(shí)探頭到小缺陷的距離。探頭要進(jìn)行聚焦以便探測(cè)小缺陷并得到zui大的回波 幅值，只有在探頭的近場(chǎng)才可能聚焦。
近場(chǎng)長(zhǎng)度N	近場(chǎng)長(zhǎng)度N是非聚焦探頭的焦距長(zhǎng)度，它是聲軸線上能得到聲壓極大值的zui遠(yuǎn)距離。N的大小由D、c和f來(lái)決定。由于D>>λ，所以：N=Deff/4λ=Deffxf/4c其中λ為波長(zhǎng)，c為聲速，Deff是單元有效直徑焦點(diǎn)處和近場(chǎng)長(zhǎng)度處聲能zui為集中，反射體zui易識(shí)別。因此重要測(cè)試場(chǎng)合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度處。表中的數(shù)據(jù)對(duì)鋼材而言，而水浸探頭為水。
焦點(diǎn)直徑FD	在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度附近，聲壓值比主聲軸下降  dB處到主聲軸的距離
脈沖形狀	來(lái)自于平面反射面的信號(hào)表述。
頻譜	回波脈沖中所有頻率的顯示，頻率幅值在頻率上顯示。
聲束角度β	主聲束與檢測(cè)面法線之間的夾角

探頭選擇準(zhǔn)則—北美規(guī)格

根據(jù)北美標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn), 通用電氣檢測(cè)科技提供三種系列的探頭: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根據(jù)ASTME-0，對(duì)所有探傷儀所用探頭免費(fèi)提供波形和頻率證書(shū)。

Alpha 系列特性

•   推薦用于分辨率是首要考慮目標(biāo)的場(chǎng)合.

•   適于測(cè)厚和近表面缺陷測(cè)量.

•   脈沖短—機(jī)械衰減大到目前技術(shù)極限.

•   增益通常低于Benchmark和Gamma系列.

•   寬帶—6dB 帶寬范圍從50% 到100%.

•   依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Alpha 系列波形（右）有一到兩個(gè)周期振蕩。

Benchmark 系列特性

•   產(chǎn)品BENCHMARK COMPOSITE®（壓電復(fù)合材料）晶片

•   在衰減材料中的穿透力遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)探頭。

•   在粗晶，纖維增強(qiáng)復(fù)合等材料中信噪比高。

•   脈沖短—分辨率通常高于Gamma系列。

•   增益通常高于Gamma和Alpha系列。

•   超寬帶—6dB 帶寬范圍從60% 到120%.

•   低聲阻抗晶片提高了斜探頭、延遲式探頭和水浸探頭的性能—與塑料和水可以*地匹配。

Gamma 系列特性

•   通用型探頭，推薦用于大多數(shù)應(yīng)用。

•   中等脈沖寬度, 中等阻尼—增益和分辨率的*結(jié)合.

•   匹配電路在常用場(chǎng)合確保了zui大增益和理想的波形.

•   中等帶寬—典型的6dB帶寬從30% 到50%.

•   依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Gamma系列波形有三到四個(gè)周期振蕩。