產(chǎn)品簡(jiǎn)介
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
探測(cè)器:SDD硅漂移探測(cè)器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
詳細(xì)介紹
合金分析儀EDX4500,天瑞儀器
產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 采用目前世界上的FAST SDD電制冷快速硅漂移探測(cè)器,單位時(shí)間接收的信息更多,信號(hào)處理速度更快,快5秒即可出結(jié)果
FAST SDD與標(biāo)準(zhǔn)配置SDD探測(cè)器相比有更快的處理速度和更高的分辨率
2. 配套數(shù)字多道分析技術(shù)和信噪比增強(qiáng)系統(tǒng),在超高計(jì)數(shù)率時(shí)依然能保持良好的峰背比和分辨率
在計(jì)數(shù)率接近20萬(wàn)測(cè)試時(shí)依然能保持良好的效率
3. 進(jìn)口超薄鈹窗牛津光管配套高效真空系統(tǒng),使其在測(cè)試微量輕元素時(shí)輕松自如
某鋁合金樣品中Mg(鎂)含量為0.03%的檢出譜圖
4. 對(duì)客戶特殊需求可定制個(gè)性化解決方案
5. 某客戶電池芯桿材料Pb(鉛)含量要求管控在50ppm以下
1. RoHS/無(wú)鹵指令檢測(cè)
2. 合金分析領(lǐng)域(特別是輕元素)
鋁合金成分分析及牌號(hào)判定
銅合金成分分析及牌號(hào)判定
不銹鋼成分分析及牌號(hào)判定
合金鋼、鑄鐵、生鐵成分分析
合金分析儀EDX4500,天瑞儀器 3. 鍍層厚度分析
鍍層成分分析
鍍液環(huán)保分析
4. 包裝指令檢測(cè)(94/62/EC)Cd+Pb+Hg+Cr6+<100
5. 玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) EN71-3
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)X熒光光譜儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,氣相色譜儀,ROHS測(cè)量?jī)x,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GC-MS6800,ICP-MS2000等。