產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
OES8000全譜直讀光譜分析儀技術(shù)優(yōu)勢:
1、世界較為的第二代CCD全譜光譜制造技術(shù)(數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù))、通道可不受限制 ;
2、引進(jìn)歐洲技術(shù)、同光譜儀技術(shù)同步,國內(nèi)能生產(chǎn)真空CCD全譜技術(shù)光譜儀的;
3、采用真空型恒溫光室,穩(wěn)定、可靠、免維護(hù);不再采用小型雙光室設(shè)計解決長短波元素的技術(shù)問題;
4、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費用;
5、升級多基體方便,無須變動增加硬件 ;
6、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性,同一樣品不同的時間段分析,可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ;
7、體積小、重量輕, 移動安裝方便 ;
8、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性 ;
9、節(jié)電、節(jié)材、能耗只是普通光譜儀50%。
OES8000全譜直讀光譜分析儀主要特點:
1、可測定包括痕量碳(C)、磷(P)、硫(S)元素,適用于多種金屬基體,如:鐵基、鋁基、銅基、鎳基、鉻基、鈦基、鎂基、鋅基、錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范 圍,可根據(jù)客戶需要選擇通道元素;
2、分析速度快捷,20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及標(biāo)線,使儀器用短的時間達(dá)到優(yōu)的分析效果;
3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室, 激發(fā)時產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室,實現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗,提高檢出限,測定結(jié)果,重現(xiàn)性及穩(wěn)定性較佳;
4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計,使真空室容積更小,抽真空速度不到普通光譜儀的一半;
5、自動光路校準(zhǔn),光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動識別特定譜線,與原存儲線進(jìn)行對比,確定漂移位置,找出分析線當(dāng)前的 像素位置進(jìn)行測定;
6、開放式的電極架設(shè)計,可以調(diào)整的樣品夾,便于各種形狀和尺寸的樣品分析;
7、工作曲線采用標(biāo)樣,預(yù)做工作曲線,可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍,每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成,自動扣除干擾;
8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料 ;
9、固態(tài)吸附阱,防止油氣對光室的污染,提高運行穩(wěn)定性;
10、銅火花臺底座,提高散熱性及堅固性能;
11、合理的氬氣氣路設(shè)計,使樣品激發(fā)時氬氣沖洗時間縮短,為用戶節(jié)省氬氣,氬氣消耗不到普通光譜儀的一半;
12、采用鎢材料電極,電極使用壽命更長,并設(shè)計了電極自吹掃功能,清潔電極更加容易;
13、高性能DSP及ARM處理器,具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動實時監(jiān)測光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源系統(tǒng)及控制系統(tǒng)等模塊的運行狀況;
14、儀器與計算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接,抗干擾性能好,外部計算機(jī)升級與儀器配置無關(guān),使儀器具有更好的適用性;
15、核心器件全部*,了儀器的品質(zhì)。