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詳細(xì)介紹
無鹵檢測儀目前XRF在氯的測試結(jié)果判定方面沒有一個專門的標(biāo)準(zhǔn)來執(zhí)行，而鹵素標(biāo)準(zhǔn)與rohs標(biāo)準(zhǔn)之間有很大的關(guān)聯(lián)，執(zhí)行rohs標(biāo)準(zhǔn)的時候?qū)Y(jié)果的判定是參考IEC62321文件來執(zhí)行的，所以目前大部分XRF廠商對于Cl的結(jié)果的判定也是參考IEC62321文件執(zhí)行，以下節(jié)選自IEC62321文件里面各元素的檢測結(jié)果的判斷方法。
無鹵檢測儀各種類型的XRF光譜儀單獨使用，分析方法允許使用者把樣品歸納為以下三類的其中一類：
a) “合格”－ 如果對所有的元素定量分析的結(jié)果全部小于表2所列的低限值，樣品經(jīng)過測試為合格。
b) “不合格”－ 如全部高于表2所列的高限值，樣品經(jīng)過測試為不合格。
c) “未決定”－ 如果對Hg、Pb或者Cd其中任何一種的元素定量分析的結(jié)果處于中間區(qū)域或者元素Br和Cr的結(jié)果高于表2所列的高限值，分析結(jié)果為未做決定。還必須要進(jìn)行進(jìn)一步的研究。這個檢測是“未決定”。
表2：各種基材中受限元素的篩選限值，單位（mg/kg）
元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件
Cd P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F LOD≤X <（250＋3σ）≤F
Pb P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（500－3σ）<X <（1500＋3σ）≤F
Hg P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（500－3σ）<X <（500＋3σ）≤F
Br P≤（300－3σ）<X
P≤（250－3σ）<X
Cr P≤（700－3σ）<X P≤（700－3σ）<X P≤（500－3σ）<X
篩選限值已列于表2中。普通法定的對受關(guān)注物質(zhì)的限值已經(jīng)受到了相關(guān)的評估，但對此方法“執(zhí)行的水平”已經(jīng)為篩選過程定了容許30％（50％對于電子元件）安全極限值的偏差，這樣合格（P）或者不合格（F）的決定將會分別設(shè)定為少于和多于30％（50對于電子元件）的法定限值。極限值得到了很多做實驗的和工廠的實踐人員的贊同。“X”符號表示這樣一個區(qū)域，在這個區(qū)域中的數(shù)值還需要進(jìn)一步的研究。
因此天瑞公司對于Cl元素的結(jié)果的判斷也是參考此文件得出如下的判斷方法。
元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件
Cl P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F