產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
天瑞鹵素分析儀對(duì)于不同的電子材料,元件,板材等,業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來(lái)執(zhí)行。現(xiàn)在有兩種講法對(duì)于無(wú)鹵素,1.BSEN14582測(cè)試方法,這種根本測(cè)不出(<50ppm)的CI,Br;2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒(méi)有對(duì)總含量定義。有些公司定義的測(cè)試方法及測(cè)試樣品的選取都有不同,樣品數(shù)量太少的話,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果會(huì)有很大偏差。
天瑞鹵素分析儀各標(biāo)準(zhǔn)組織的測(cè)試方法如下,
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法(Ion chromatography) 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
傳統(tǒng)只是對(duì)鹵化物有定義要求,采用鉻酸銀試紙,氟點(diǎn)測(cè)試等方法檢測(cè)只是對(duì)鹵化物的離子進(jìn)行定性的測(cè)試方法,如果要定量的話還得用離子層析法(Ion chromatography)。
無(wú)鹵素與無(wú)鹵化物不是一個(gè)概念,鹵化物是以游離的鹵素離子存在,而鹵素則可以共價(jià)的方式形成含有鹵素的化合物,并且用離子層析法(Ion chromatography)是測(cè)不到游離的鹵素離子存在的。所以,目前的鹵素測(cè)試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測(cè)樣品共價(jià)存在的鹵素破壞原先的結(jié)構(gòu),使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素,可以被離子層析法(Ion chromatography) 檢測(cè)到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測(cè)到。
以上為鹵素標(biāo)準(zhǔn)采用的測(cè)試方法;目前rohs測(cè)試主要是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測(cè)試方法,及XRF在rohs中的作用,并且注明了XRF測(cè)試結(jié)果如何判定是否符合標(biāo)準(zhǔn),目前電子電器行業(yè)對(duì)于Cl,Br的測(cè)試是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,判斷其結(jié)果是否符合標(biāo)準(zhǔn)也是按照此文件內(nèi)的30%的偏差來(lái)判斷的。
鹵素分析儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)ROHS分析儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,ROHS檢測(cè)儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,氣相色譜儀,ROHS測(cè)量?jī)x,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。