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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】產(chǎn)品介紹
Thick 8000 x射線熒光測厚儀（國產(chǎn)）是專門針對(duì)鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、開關(guān)、等企業(yè)，天瑞儀器是，分析儀器企業(yè)，產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務(wù)。
性能優(yōu)勢
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位 精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測試平臺(tái)，方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)
軟件界面測試按鈕，自動(dòng)完成測試并顯示測試結(jié)果
技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時(shí)檢測元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
SDD探測器：分辨率低135eV
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達(dá)0.1mm，小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】測試實(shí)例
在計(jì)數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。
11次測量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下：
次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 |