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詳細(xì)介紹
X熒光光譜儀EDX1800B能用于測(cè)定周期表中多達(dá)83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和X射線發(fā)生激烈作用的樣品都能分析，而要分析的樣品必須經(jīng)受在真空(4~5Pa)環(huán)境下測(cè)定，與其他分析技術(shù)相比，XRF具有分析速度快，穩(wěn)定性和精密度好以及動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。
X熒光光譜儀EDX1800B工作原理
X-熒光光譜儀有兩種類型：一種是波長(zhǎng)色散型(WDX)，一種是能量色散型(EDX)，在WDX中，熒光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續(xù)的波段，然后用氣體正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器檢測(cè)，其主要組成是X光管、初級(jí)準(zhǔn)直器、晶體、次級(jí)準(zhǔn)直器和探測(cè)器，及輔助裝置如初級(jí)濾光片等。
SDD探測(cè)器X熒光儀共有2個(gè)探測(cè)器，即流氣正比計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器，裝在探測(cè)器架上，可程控切換.掃描式X射線熒光儀安裝的是具有很大測(cè)定靈活性的測(cè)角儀，只要配備了必要的分析晶體就能按序分析周期表上多達(dá)83個(gè)元素。
X射線熒光光譜儀的基本原理
被測(cè)試樣進(jìn)入光譜儀后，受到來自X光管發(fā)出的X射線光束激發(fā)，產(chǎn)生X熒光，X射線熒光是指用X射線管或其它合適的輻射源照射物質(zhì)時(shí)，使組成物質(zhì)的原子產(chǎn)生具有特征性的一種次級(jí)X射線，X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素(Rh銠)的特征譜和連續(xù)譜(或稱白色輻射)所組成，來自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光，這種混合光被引入測(cè)角儀所組成的色散系統(tǒng)分光，分光后所得的譜線和被測(cè)樣品中存在的元素有關(guān)。
EDX1800B
rohs2.0檢測(cè)儀性能參數(shù)
專門應(yīng)對(duì)rohs2.0、鹵素等環(huán)保指令的檢測(cè)
集成FP法、Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，多種數(shù)據(jù)處理方式，能更*的應(yīng)對(duì)非常規(guī)產(chǎn)品的檢測(cè)
可生成各種人性化的檢測(cè)報(bào)告
軟硬結(jié)合的防輻射設(shè)計(jì)，使儀器操作人員更安全
操作簡(jiǎn)便、一鍵式操作設(shè)計(jì)
智能軟件自動(dòng)設(shè)定參數(shù)和濾光片
快速無損分析樣品
多種語言的操作系統(tǒng)
超溫保護(hù)、超載保護(hù)
無需耗材
rohs2.0檢測(cè)儀EDX1800B技術(shù)規(guī)格
探測(cè)器：美國(guó)Amptek Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖分析系統(tǒng)
高壓電源：美國(guó)Spellman 50w（50kv/MA）
X射線管：50w側(cè)窗鈹窗型X射線管
能量分辨率：160ev
元素分析范圍：硫（S）-鈾（U）
測(cè)量時(shí)間：60－300S
測(cè)量含量范圍：ppm-99.9%
電源：220V 建議配備1000W交流穩(wěn)壓電源
工作溫度：15-30°C
測(cè)量條件：大氣環(huán)境
rohs2.0檢測(cè)儀EDX1800B標(biāo)準(zhǔn)配置
美國(guó)Amptek Si-PIN探測(cè)器
美國(guó)Amptek 信號(hào)檢測(cè)電子電路
美國(guó)spellman 高壓電源
側(cè)窗鈹窗型X光管
品牌計(jì)算機(jī)（聯(lián)想）和品牌激光打印機(jī)（佳能）
可安裝三套獨(dú)立軟件（環(huán)保rohs、鍍層分析、全元素成分檢測(cè)），真正做到一機(jī)多
rohs2.0檢測(cè)儀EDX1800B應(yīng)用領(lǐng)域
電子電器、五金沖壓、包裝塑料等各類產(chǎn)品的rohs2.0、無鹵檢測(cè)