產品簡介
詳細介紹
鍍層測厚儀THICK800A 工作原理
從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發(fā)區(qū)的特征X射線的強度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在一定被激發(fā)區(qū)的測量區(qū)域內,鍍層和涂層元素百分比含量是固定的,因而所測得的X熒光強度與該測量范圍鍍層和涂層的厚度成一定正比例關系。在一定的厚度范圍內,鍍層和涂層的厚度與激發(fā)區(qū)的特征X射線的強度成正比例關系,因此只要測量該范圍內的X熒光強度值,即可算出鍍層和涂層的厚度。
鍍層測厚儀THICK800A 應用領域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,
□Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
應用優(yōu)勢
1 快速:一般測量一個樣品只需要30S~300S,樣品可不處理或進行簡單處理;
2 無損:物理測量,不改變樣品性質;
3 :對樣品可以分析;
4 直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5 環(huán)保:檢測過程中不產生任何廢氣、廢水。
儀器配置
1 硬件:主機壹臺,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開放式樣品腔 (8)雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計算機、打印機各一臺
計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)
4 資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
5 標準附件
準直孔:0.1X1.0mm(已內置于儀器中)
參數規(guī)格
1 分析元素范圍:S-U
2 同時可分析多達5層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.005μm
4 多次測量重復性可達0.01μm
5 定位精度:0.1mm
6 測量時間:30s-300s
7 計數率:1300-8000cps
8 Z軸升降范圍:0-140mm
9 X/Y平臺可移動行程:50mm(W)×50mm(D)
性能特點
1 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;
2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
3 高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm;
4 采用高度定位激光,可自動定位測試高度;
5 定位激光定位光斑,確保測試點與光斑對齊;
6 鼠標可控制移動平臺,鼠標的位置就是被測點;
7 高分辨率探頭使分析結果更加;
8 良好的射線屏蔽作用;
9 測試口高度敏感性傳感器保護;
安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。
質量
1. 乙方對所出售本合同所規(guī)定的儀器進行終身維修;
2. 軟件免費升級:如有軟件升級,乙方將免費提供軟件升級,不再收取升級費用;
3. 保修條款
3.1. 儀器設備自驗收合格之日起免費保修1年;
3.2. 免費保修期內,維修相關費用全免;
Thick800A操作說明書:
1) 鼠標雙擊桌面上的“FpThick”軟件圖標:用戶使用“Administrator”,密碼:skyray
2) 進入測試軟件后,選擇“測試條件”
“打開”彈出以下:“確定”,即測試條件確定
3) 選擇“工作曲線”,如下圖:
選擇所需要的工作曲線,此處以Ni/Fe曲線為例,如下圖:
完成以上步驟后,工作曲線即已經選定4) 放入“Ag片”對儀器進行初始化
放好Ag片后初始化按鈕,初始化完成后,(峰通道為1105,計數率達到一定的數,如300以上)。5) 放入需要測試的樣品,“開始”鍵,輸入樣品名稱后“確定”測試完成后即可保持,的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“鍍層”中找到。注意:測試鍍層樣品時,必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。