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詳細介紹
日本NF LCR測試儀ZM系列概述
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域
實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對應從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途
日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對1nF的電容反復測量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測量的再現(xiàn)性得到了進一步提高。
● 測量時間：5ms
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技術(shù)參數(shù)
早在1959年， 高精度的負反饋控制技術(shù)尚未在日本國內(nèi)普及， 我們就已經(jīng)以此為基礎， 根據(jù)“凡是社會需要的， 就是我們要創(chuàng)造的新產(chǎn)品”的理念， 創(chuàng)建了NF公司。 此后， 我們繼承和發(fā)揚了這一精神， 積極探索尚未被人們了解的新領域， 不斷創(chuàng)新并提供*產(chǎn)品， 為新一代的產(chǎn)品開發(fā)和社會發(fā)展做出我們的貢獻。 NF的*技術(shù)涉及到極其廣闊的領域， 包括汽車和數(shù)字家電等*電子技術(shù)、 燃料電池和太陽能發(fā)電等清潔能源技術(shù)、 納米技術(shù)、 以及人造衛(wèi)星和火箭等宇航技術(shù)。今后， 我們?nèi)詫⒗^續(xù)鉆研*技術(shù)， 不斷地為未來的科技發(fā)展提供高新技術(shù)產(chǎn)品。