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[供應(yīng)]EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析儀
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  • EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析儀
貨物所在地:
廣東東莞市
更新時間:
2021-04-28 21:00:05
有效期:
2021年4月28日 -- 2021年10月28日
已獲點擊:
143
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(聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析儀是較適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。

詳細介紹

EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析儀

 

產(chǎn)品信息

 

 

能量色散型X射線熒光分析裝置 EDX-GP是較適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。

*次使用,也能輕松操作,操作簡便且以更高的精度進行微量分析,達到高靈敏度與佳分辨率的*結(jié)合。

EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析儀標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,使可以獲得佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng) 。

 

利用[篩選分析]畫面、操作簡單方便
從主成分判定到條件選擇全部實現(xiàn)自動處理
利用自動測定結(jié)束功能、縮短測定時間
高靈敏度·高分辨率·高精度
快速、高靈敏度測定微量元素
 
標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的各種功能
超大樣品室,可以直接測試大型樣品

 

 

 

 

操作簡便,一個指令即可開始全自動測定。
測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷,現(xiàn)在改由裝置自動判斷,即使初學(xué)者也可簡便·高精度地測定。

 

 

 

 

1st Step
放置樣品
將樣品放在分析位置,利用樣品圖像觀察裝置確認分析位置。
選擇分析區(qū)域。
關(guān)閉樣品室。
 
2nd Step
選擇分析條件/輸入樣品名稱
一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
點擊開始。
3rd Step
 
顯示分析結(jié)果
測定結(jié)束后,畫面上將清楚顯示5種元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(測定偏差)]。
點擊即可顯示[結(jié)果列表]或[創(chuàng)建報告書]。

 

 

 

 

只需1次點擊,便可根據(jù)預(yù)先登錄的分析條件,
自動執(zhí)行從測定到結(jié)果的一系列操作。

 
■ 校準(zhǔn)曲線自動選擇功能

 

 

 

 
不含有害元素時,測定過程中能夠判定結(jié)果時,即自動終止測定,縮短分析時間。
 
■ 省時功能

不含有害元素時

不含有害元素時,測定過程中能夠判定結(jié)果時,即自動終止測定,縮短分析時間。
■ 適用省時功能的縮短時間示例
 
 

 

含量低于檢出下限值時,判斷不含有,測定自動結(jié)束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限,與設(shè)定的200秒(=100秒+100秒)分析時間相比,僅用了50秒(=25秒+25秒)即結(jié)束分析,大幅度節(jié)約了時間。

 
有害元素含量高時

由設(shè)定的目標(biāo)管理精度自動決定測定時間。
在測定精度達到管理值時結(jié)束測定。

■ 適用省時功能的縮短時間示例
 
 

測定高濃度元素時,在比設(shè)定的測定時間更短的時間內(nèi)即可獲得高強度,而且誤差變小,由此可以大幅縮短時間。上述樣品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,設(shè)定的分析時間為200秒(=100秒+100秒),實際僅用了40秒(=15秒+25秒)即結(jié)束分析,大幅度節(jié)約了時間。

 

 

 

 
本裝置配置了RoHS/ELV檢測中*高的EDX-720型的半導(dǎo)體檢測器、濾光片及高計數(shù)率電路。
 
 
為什么需要高靈敏度?
 
能夠測定更微量的元素。 測定時間更短,因此相同時間內(nèi)測定數(shù)量更多。
 
 
■鹵素系列阻燃劑中微量Cd
 
 〔keV〕
 
 
為什么需要高分辨率?
可以減輕目標(biāo)元素附近的其他共存元素的重疊影響。
 
 
■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb
 
〔keV〕
 
 
為什么需要高精度?
 

在IEC提出的合格判定中,分析裝置的重現(xiàn)性對判定結(jié)果有很大的影響,重現(xiàn)性越好(即測定精度越高),合格判定的準(zhǔn)確度就越高。

 

 

 

 

 

利用濾光片提高靈敏度/還可以進行高靈敏度的無鹵素分析

 

標(biāo)準(zhǔn)配備了5種濾光片,可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線,提高檢測靈敏度。

本裝置在RoHS/ELV/無鹵素分析中會自動選擇3種合適的濾光片,進行高靈敏度測定?!?/td>
 
受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測定
 
 
 微量成分:Cl(除去特征X射線)

利用濾光片提高檢測靈敏度

 
 

微量成分:Pb(背景降低)

 
 

濾光片條件靈活,滿足客戶要求

 
如果您希望在短時間內(nèi)對多個樣品進行測定,推薦使用單個濾光片進行高速分析。
 

<由單個濾光片進行高速分析> 測定時間:100秒

 

如果您希望對微量元素進行高靈敏測定,可以選擇各種濾光片進行高靈敏度分析。 
與單個濾光片高速分析相比,靈敏度約提高2~3倍。

 

<由濾光片進行高靈敏度分析>
測定時間:300秒(100秒×3通道)

 
 
 
 

 

 

 

 
EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,就可以獲得佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng)。
 
標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器&樣品圖像觀察組件
 

測定異物或者測定包含多個部位的樣品時,通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時,可以簡單的設(shè)定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時,可以使用準(zhǔn)直器,更改X射線照射區(qū)域。
(1, 3, 5, 10 mmφ)


10mmφ圖像(塑膠)
 
3mmφ(金屬)
 
 

形狀校正功能

 
即使含量相同的樣品,在形狀和厚度不同時,X射線強度將發(fā)生變化,得到的定量值也會受到影響,EDX-GP通過使用BG內(nèi)標(biāo)法*,可以排除形狀和厚度的影響,取得高精度結(jié)果。 
BG內(nèi)標(biāo)法 
通過散射X射線強度使各元素的X射線熒光強度標(biāo)準(zhǔn)化的一種校正方法。
 
 
測定結(jié)果列表管理
 
創(chuàng)建列表功能
 
已保存數(shù)據(jù)可以用Excel形式列表顯示。

 

 

 

 
超大樣品室可以對應(yīng)各種樣品形態(tài)及大小。
 

采用超大樣品室

 
大可以放置370mm長×320mm寬×155mm高的大型樣品,令緊湊型機身*。

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