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WLS qFLASH藍光拍照式測量系統(tǒng)

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更新時間:2018-06-11 20:53:01瀏覽次數(shù):693

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
WLS qFLASH藍光拍照式測量系統(tǒng)重量輕、便于把持、堅固耐用。WLS qFLASH 在設(shè)計可以采用三腳架或使用手持模式,在零部件上進行超便攜的測量或者直接完成根源分析。

詳細介紹

WLS qFLASH藍光拍照式測量系統(tǒng)

閃光無處不在:

來自海克斯康計量的WLS qFLASH 測量系統(tǒng),是非接觸測量的多面手,能夠快速完成三維測量任務(wù),在制造現(xiàn)場產(chǎn)生測量報告和完成數(shù)字化掃描。重量輕、便于把持、堅固耐用。WLS qFLASH 在設(shè)計可以采用三腳架或使用手持模式,在零部件上進行超便攜的測量或者直接完成根源分析。

WLS qFLASH藍光拍照式測量系統(tǒng)

WLS qFLASH 為以下應(yīng)用提供了優(yōu)選的方案:
- 汽車制造商與設(shè)備制造商
- OEM制造商
- 航空零部件供應(yīng)商與OEM
- 塑料件制造商
- 電子零部件制造商

 技術(shù)說明:

 

相機

3 x 4.2 百萬像素數(shù)碼相機,專門設(shè)計完成工業(yè)應(yīng)用。

采用堅固與高穩(wěn)定性碳纖維外殼保護。

投影與三維重構(gòu)技術(shù)

隨機投影模式與立體視覺技術(shù)

整合2D 3D 技術(shù),實現(xiàn)快速、精確的曲面和特征測量

照明

基于藍色LED 高功率照明??煽坎⒛陀?/span>

FOV性能

視場 (在特定工作距離情況下)350 X 350 mm 
景深:160 mm 
工作距離:550 mm 
點云距離:0.19 mm

計量性能

VDI / VDE 2634,第二部分

MPE,根據(jù)VDI / VDE 2634 第二部分 (360 X 360 mm FOV 鏡頭,RE 模式);工業(yè)應(yīng)用 
探測誤差:0.040 mm 
空間誤差:0.035 mm 
平面度誤差:0.035 mm

工業(yè)性能

采用2 sigma 原則,LFOV,平均對平均。(WLS FLASH-CMM),采用外部mapping
平面測量精度 ( 單點): 0.035 mm
WLS FLASH 
點云精度 (3 x 2 x 1 m 尺寸的物體)0.1 mm

操作性能

曝光時間 ( 常用設(shè)置): 20 msec

尺寸與重量

WLS qFLASH 傳感器

370 X 270 X 255 mm, 6.0 kg 
WLS 
qFLASH 電控系統(tǒng)
310 X 215 X 60mm, 3 kg

電氣兼容性

電壓:90-230 VAC 50-60 Hz 
功率:0.7 kW – 高峰用量

工作環(huán)境條件

操作環(huán)境:5 - 35° C ( 受限于PC/ 筆記本的指標。可通過冷卻系統(tǒng)的使用實現(xiàn)提升。)
操作光學環(huán)境:對于工業(yè)照明、環(huán)境光源和非直接的日光保持低敏感度。
結(jié)構(gòu)設(shè)施震動:專為在工業(yè)環(huán)境下使用而設(shè)計

系統(tǒng)周期檢定

年度現(xiàn)場認證,可溯源校準

計算機與軟件

操作系統(tǒng):Windows 7 64Bit OS
計算平臺:筆記本
系統(tǒng)軟件:來自??怂箍涤嬃康?/span>CoreView™ 軟件

認證與標準

CE / TÜV - 安全標準: IECEN 61010-1:2001 EMC: IECEN 61000 VDI/VDE 2634 第二部
分,用于光學測量系統(tǒng)。
可追溯至NIST 計量標準,ISO 9001:2000

 

 

WLS qFLASH將無規(guī)則點陣投射到測量物體表面,利用立體視覺進行曲面、特征與邊線分析。采用專有的CoreView三維測量分析軟件包,WLS qFLASH為鈑金件測量、覆蓋件檢測、鑄鋁和鑄鐵件測量、塑料件、內(nèi)飾和小型模具的檢測應(yīng)用提供了優(yōu)化的選擇。

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