詳細(xì)介紹
三豐粗糙度輪廓儀一體機(jī)SV-C3200/4500系列三豐粗糙度輪廓儀一體機(jī)SV-C3200/4500系列
表面粗糙度測(cè)量功能
• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提 供。Z1軸的高顯示分辨力為0.0001µm (測(cè)量范圍為8µm時(shí))。 • X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X 軸移動(dòng)距離,在高精度精準(zhǔn)定位下,完 成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。 • 檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。 輪廓測(cè)量功能
•Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和 新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀 取測(cè)針的弧形軌跡,以實(shí)現(xiàn)高精度和高 分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比,新測(cè)臂使Z1 軸測(cè)量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工 件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接 件,單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸,提 高了易用性。
• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性 作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的功能。 (1) 裝配雙錐面測(cè)針,實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下 )連續(xù)測(cè)量,所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單分 析以往難以測(cè)量的內(nèi)螺紋有效直徑。 (2) 測(cè)力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè) 置。無(wú)需調(diào)整配重。
• 的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK 分析程序,通過(guò)簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行高 級(jí)分析并即刻輸出結(jié)果。
• 表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓測(cè)量?jī)x結(jié)合在 一起,節(jié)省安裝空間。