波長色散型XRF熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測(cè)器接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號(hào)。如果分光晶體和探測(cè)器作同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個(gè)波長X射線的強(qiáng)度?？梢該?jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。波長色散型X射線熒光譜儀產(chǎn)生于上世紀(jì)50年代，由于可以對(duì)復(fù)雜體系進(jìn)行多組分同時(shí)測(cè)定，受到關(guān)注，特別在地質(zhì)部門，先后配置這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。

X熒光光譜儀的使用

　　1 啟動(dòng)

　　1.1 如停機(jī)在2-8小時(shí)，則外冷水需先運(yùn)轉(zhuǎn)10分鐘，內(nèi)冷水需先運(yùn)轉(zhuǎn)5分鐘;如停機(jī)在8小時(shí)以上，則外冷水需先運(yùn)轉(zhuǎn)15分鐘，內(nèi)冷水需先運(yùn)轉(zhuǎn)10分鐘。

　　1.2 開機(jī)順序?yàn)榇蜷_外冷水

　　1.3 打開內(nèi)冷水(COOLER)開關(guān)

　　1.4 打開CTROL、VACUUM開關(guān)(觀察真空度是否下降到10以下，觀察內(nèi)冷卻水的電導(dǎo)率是否在10以下)

　　1.5 打開HEATER

　　1.6 打開板高壓開關(guān)

　　1.7 打開電腦，打開MXF操作軟件，點(diǎn)擊Monitor，觀察狀態(tài)并檢查是否聯(lián)機(jī)

　　1.8 一切正常后，打開面板右下方X-RAY開關(guān)

　　1.9 點(diǎn)擊面板左上方X-RAY ON按鈕，可打開X射線--按照(5KV-0mA)--(10KV-mA)--(15KV-0mA)--(20KV-0mA)--(20KV-5mA)--(20KV-10mA)順序升高管流、管壓。如停機(jī)在2-8小時(shí)，則每步需等待10分鐘;如停機(jī)在8小時(shí)以上，則每步需等待20分鐘

　　1.10 點(diǎn)擊Maintenance欄位-彈出Maintenance-MXF-點(diǎn)擊Inrument Setup-彈出Instrument Setup-在X-ray下方管壓、管流欄位中，將兩項(xiàng)設(shè)定為(30、20)，點(diǎn)擊執(zhí)行，即可使光管條件恢復(fù)待機(jī)狀態(tài)，可進(jìn)行常規(guī)分析操作。

產(chǎn)品介紹

EDX 4500H——XRF熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到較高水平

新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好

SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元

針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素

測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒

探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

XRF熒光光譜儀EDX4500H標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測(cè)器

數(shù)字多道技術(shù)

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

XRF熒光光譜儀EDX4500H應(yīng)用領(lǐng)域

XRF熒光光譜儀合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）