高低溫快速變化試驗箱 可靠性試驗

主要為各種工業(yè)制品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗等各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱及高低溫交變（濕熱）等試驗環(huán)境和試驗條件。產(chǎn)品綠色環(huán)保、省耗節(jié)能。通過相關(guān)接口均可進行網(wǎng)絡(luò)控制及數(shù)據(jù)采集。產(chǎn)品系列覆蓋電子器件、機電產(chǎn)品、材料能源、醫(yī)藥化工到汽車航天等行業(yè)的廣泛需求。

高低溫快速變化試驗箱 可靠性試驗

型號：TEB-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

標準：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導(dǎo)則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

GJB 150.9-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法  濕熱試驗

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件