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AGILENT E5071C射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀，是安捷倫（AGILENT）公司生產(chǎn)的一款專用于射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀的產(chǎn)品，
E5071C 網(wǎng)絡(luò)分析儀具有同類產(chǎn)品中Z高的射頻性能和Z快的速度，并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制
造和研發(fā)工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內(nèi)的射頻元器件和電路的理想解決方案。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
安捷倫E5071C/Agilent E5071C 2端口網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C 4端口
E5071C簡介編輯:
AGILENT E5071C射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀，是安捷倫（AGILENT）公司生產(chǎn)的一款于射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀的產(chǎn)品，
E5071C 網(wǎng)絡(luò)分析儀具有同類產(chǎn)品中zui高的射頻性能和zui快的速度，并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制
造和研發(fā)工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內(nèi)的射頻元器件和電路的理想解決方案。
E5071C新特性:
新款 20 GHz 選件可將 E5071C ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的頻率范圍擴(kuò)展至 20 GHz。新款 20 GHz 選件支持雙端
口（選件 2K5）和四端口（選件 4K5）兩種配置，可用于測量各種成分，例如 WLAN、WiMAX?、UWB 或任何 4G
技術(shù)中的無源器件的第三個諧波。
新特性
E5071C ENA 網(wǎng)絡(luò)分析儀手冊
討論校準(zhǔn)、應(yīng)用和編程問題： 網(wǎng)絡(luò)分析儀論壇
選擇附件： 網(wǎng)絡(luò)分析儀附件
支持: ENA 系列服務(wù)和支持主頁
E5071C 8.5G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-8.5GHz
Agilent E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了zui快、的射頻器件測量能力。其*的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來
完成多端口測量，進(jìn)一步提高了測試吞吐率。
E5071C主要技術(shù)指標(biāo)編輯:
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB（典型值）
極快的測量速度：39 ms（進(jìn)行*雙端口校準(zhǔn)，掃描1601點時）
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時）
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic . for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/strong>
E5071C技術(shù)指標(biāo):
寬動態(tài)范圍：測試端口上的動態(tài)范圍 > 123 dB（典型值）
極快的測量速度：41 ms，進(jìn)行全雙端口校準(zhǔn)，掃描 1601 點時
極低的跡線噪聲：0.004 dB rms，70 kHz IFBW 時
E5071C特性:
內(nèi)置 Visual Basic for Applications（VBA）
強大的分析和誤差校正功能
隨時升級所有可用的 ENA 選件
選件配置
E5071C—240 雙端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245 雙端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—440 4端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—445 4端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280 雙端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285 雙端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—480 4端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—485 4端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—008 頻率偏置模式
E5071C—010 時域分析能力
E5071C—790 測量向?qū)е周浖?/strong>
E5071C—1E5 高穩(wěn)定度時基
E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀測試方法
一．面板上常使用按鍵功能大概介紹如下：
Meas 打開后顯示有：S11 S21 S12 S22 （S11 S22為反射，S21 S12 為傳輸）注意：駐波比和回波
損耗在反射功能測試，也就是說在S11或者S22里面測試。
Format 打開后顯示有：Log Mag———SWR———-里面有很多測試功能，如上這兩種是我們常用到的，Log
Mag為回波損耗測試，SWR 為駐波比測試。
Display打開后顯示有:Num of Traces (此功能可以打開多條測試線進(jìn)行同時測試多項指標(biāo)，每一條測試線
可以跟據(jù)自己的需求選擇相對應(yīng)的指標(biāo)，也就是說一個產(chǎn)品我們可以同時測試駐波比和插入損耗或者更多的指標(biāo)）