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當前位置：鄭州偉創(chuàng)檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒分析天平XS205DU
| 參 考 價 | 面議 |
| 參數(shù)名稱 | 參數(shù)值 | ||
| 量程 | 雙量程 | 1/2稱量1） | 四角.3mg |
| 可讀性 | 0.01/0.1mg | 靈敏度漂移 | 0.0004% |
| 稱量值 | 81/220g | 靈敏度溫度漂移2） | 0.00015%/℃ |
| 稱量值重復性(s) | 0.1 mg | 靈敏度穩(wěn)定性3） | 0.0002%/a |
| 10g重復性(s) | 0.02mg | 典型稱量時間4） | 6s |
| 線性 | ±0.2mg | 接口更新速率 | 23/s |
| 秤盤尺寸(mm) | 78×73 | 1）按照OIML76標準 2）溫度范圍10 …30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置 | |
| 防風罩有效高度(mm) | 235 | ||
| 天平外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 | ||
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