目錄:北京中恒日鑫科技有限公司>>輻射及安全防護(hù)設(shè)備>> 5170美國貝爾BELL 5170便攜式高斯計
| 型號 | 5170 | 5180 |
| 基本精度 | 2% | 1% |
| 頻率范圍 | DC - 20 kHz | DC - 40 kHz |
| 屏幕顯示采樣率 模擬輸出采樣率 | 4次/秒 沒有 | 4次/秒 200K次/秒 |
| 量程 | 3檔 | 3檔 |
| 低量程 | 200G | 300G |
| 中量程 | 2KG | 3KG |
| 高量程 | 20KG | 30KG |
| 分辨率 | 0.1G | 0.1G |
| 單位 | Gauss, Tesla, | Gauss, Tesla, A/M |
| 顯示位數(shù) | 3 1/2 LCD | 3 3/4 LCD |
| 模擬輸出 | - | +3V F.S. |
| 模擬輸出 | - | USB |
美國FW5170高斯計一般信息：
| 工作溫度 | 0℃ 至 +50℃ |
| 儲存溫度 | -25℃ 至 +70℃ |
| 電源 | 4節(jié)AA電池或外接電源 |
| 尺寸 (長 x 寬 x深) | 6.9" (175 mm) x 3.9" (100 mm) x 1.44" (37mm) |
美國FW5170高斯計探頭和附件：
| 5170探頭型號 | 5180探頭型號 |
| HTH17-0604 4" Transverse Probe STH17-0404 4" Transverse Probe (incl.w/5170) STH17-0402 2" Transverse Probe SAH17-1904 4" Axial Probe SAH17-1902 2" Axial Probe STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick) | HTD18-0604 4" Transverse Probe STD18-0404 4" Transverse Probe (incl.w/5180) STD18-0402 2" Transverse Probe SAD18-1904 4" Axial Probe SAD18-1902 2" Axial Probe STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick) |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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