　　人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x是為人工晶狀體制造商提供的針對(duì)光焦度以及調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)的高品質(zhì)實(shí)時(shí)檢測(cè)儀，適用于所有類型的人工晶體測(cè)量及分析(折射型和衍射型)。被廣泛地應(yīng)用于物理量的可靠的測(cè)量如：距離、寬度、速度、厚度和平直度的測(cè)量在測(cè)量?jī)x中的邊沿檢測(cè)器件，檢測(cè)發(fā)射光或反射光，以直接測(cè)量或間接測(cè)量被測(cè)物體的尺寸。

　　人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x的主要優(yōu)點(diǎn)：

　　1.、測(cè)量散光，軸線及殘余散光。

　　2、數(shù)值化和圖形化整個(gè)表面的曲率分布。

　　3、測(cè)量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。

　　4、干涉條紋可以體現(xiàn)整個(gè)表面的光學(xué)特征。

　　5、對(duì)刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對(duì)準(zhǔn)，是否磨損等。

　　6、不需要特殊的防震平臺(tái)。

　　7、可測(cè)量樣品的整個(gè)表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。

　　8、可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。

　　人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺(tái)度為0.5度的光學(xué)角度測(cè)量?jī)x組成。用于測(cè)試人工晶狀體在一個(gè)處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。

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隱形眼鏡/接觸鏡檢驗(yàn)設(shè)備

人工晶狀體檢驗(yàn)設(shè)備

眼鏡產(chǎn)品及護(hù)目鏡檢驗(yàn)設(shè)備

接觸鏡人工晶狀體生產(chǎn)設(shè)備

鏡片磨邊生產(chǎn)用環(huán)保設(shè)備

原來人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x有這么多優(yōu)點(diǎn)！