會議期間，張博士參與了第6工作組關(guān)于顆粒表征—激光衍射法標準13320（2019版）以及第11工作組關(guān)于樣品制備和標準物質(zhì)的討論。張博士詳細闡述了顆粒散射光能分布的反常移動及其對粒度分析的影響，分享了真理光學(xué)技術(shù)團隊原創(chuàng)的科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新成果，這也是中國顆粒表征領(lǐng)域的*次在ISO/TC24/SC4標準討論會上就現(xiàn)行標準提出重大意見。

    真理光學(xué)儀器有限公司專注于顆粒測試技術(shù)的開發(fā)和儀器的設(shè)計生產(chǎn)，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)，是為數(shù)不多的既有能力從事顆粒表征基礎(chǔ)理論研究又能開展應(yīng)用技術(shù)開發(fā)的儀器公司，已獲得“環(huán)形測量池”，“斜置梯形測量窗口”，“微量進樣器”“偏振空間濾波技術(shù)”等多項，并先后推出LT3600系列高速智能激光粒度分析儀，Spraylink實時超高速噴霧粒度分析儀及Nanolink S900納米粒度分析儀，為廣大客戶提供從納米到微米，從固體顆粒到液體霧滴等多種應(yīng)用領(lǐng)域的粒度測量技術(shù)方案。