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產品簡介
詳細介紹
**-40度高低溫濕熱老化試驗箱
歡迎訂購宏展可程式高低溫試驗箱，選擇廣東宏展科技。專業(yè)品質，有口皆碑。為更好的服務客戶宏展科技在東莞，武漢，西安，河南，重慶，成都，昆山，香港等地均設有辦事處只要和我司，我司會安排客戶到我司的老客戶出實地查看宏展品牌高低溫試驗箱的使用性能和價值體現。
一，宏展可程式高低溫試驗箱，本系列試驗箱就是用各種各樣的溫度環(huán)境試驗產品和設備的動作和耐久性的裝置；是用于研究從產品和設備的開發(fā)，經過生產階段，直至出廠、廢棄之前所經受的溫度的影響。
二、宏展可程式高低溫試驗箱應用范圍：電子，電工，五金，LED，節(jié)能，光電，塑膠，，航天，電池，儀器，儀表，布料，傘業(yè)，食品，高校，研究所等企事業(yè)單位。
三，宏展可程式高低溫試驗箱技術參數：
溫度波動度：±0.5
溫度偏差：≤±2℃
升溫時間：平均10℃／min（非線性空載）或定做
降溫時間：平均5℃／min（非線性空載）或定做
溫度范圍：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
冷凍系統(tǒng)：
1.壓縮機：法國*全密式壓縮機
2.冷媒：環(huán)保冷媒R404A
控制系統(tǒng)：
原裝韓國進口TEMI902彩色觸摸頻或TEMI790液晶顯示薄膜按鍵式數據輸入
四、宏展可程式高低溫試驗箱規(guī)格尺寸：
型號 LP-80 內形尺寸:W×H×D 400×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號 LP-150 內形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號 LP-225 內形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：980×1700×1040
型號 LP-408 內形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1080×1800×1240
型號 LP-800 內形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1480×1950×1240
型號 LP-1000內形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1480×1950×1440
五，購置HZ 可程式高低溫試驗箱，我司三個工作日之內快速送貨上門，并完成安裝調試，設備操作培訓等各項工作，并保固一年。
控制系統(tǒng)優(yōu)勢：
恒溫恒濕試驗箱系統(tǒng)采用自主開發(fā)的PID控制加模糊邏輯控制系統(tǒng)，全中文菜單式人機對話操作方式，操作參數少，操作過程簡單是本設備的特點。并具有開機自檢功能，溫度濕度線性校正,自動停機，系統(tǒng)預約定時啟動功能。具備自動組合制冷、加熱、真空等子系統(tǒng)的工況，從而保證在整個溫度范圍內的高精度控制，為了解決能耗問題該控制系統(tǒng)采用冷端調節(jié)控制方式，該控制方式獲得了國家磚利證書（登記號：2015SR259433）并且改變整個環(huán)試行業(yè)的設備能耗問題。 | |
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制冷系統(tǒng)設計優(yōu)勢：
制冷系統(tǒng)采用逆卡若循環(huán)設計，制冷效率得到大幅度提高，*的冷熱旁通調節(jié)和防液擊系統(tǒng)設計使壓縮機工況時時保持*佳狀態(tài)，提高了壓縮機使用壽命，同時制冷系統(tǒng)制造采用意大利*的制冷工藝制造技術大大提高了制冷系統(tǒng)的可靠性以及制冷效率，同時系統(tǒng)制冷劑使用不被Montreal公約或倫敦修正案禁止的環(huán)保型制冷劑R404A和R23，通過以上的的低溫設計和*的制造工藝使得我司的低溫試驗箱（PDR）制冷能夠到達-80℃，處于同行業(yè)*地位，達到*水平。 | |
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濕熱系統(tǒng)控制技術優(yōu)勢：
我司濕熱系統(tǒng)設計采用集成鍋爐加濕系統(tǒng)，該系統(tǒng)可靠性高低濕控制性能好，滿足GB2423任意試驗曲線在國內同行業(yè)中處于*地位，超寬的濕度控制范圍目前國內沒用任何廠商能夠到達。經過特殊控制方式更能夠滿足0度45%的濕度控制。 | |
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 | 安全性能優(yōu)勢：
①超溫保護：當運行中的設備溫度超過設定值而對測試品進行保護 ②高壓保護：無AIR或AIP壓力不足機臺不能正常運行時對其進行保護 ③高低壓保護：制冷系統(tǒng)主要部件（壓縮機）運行壓力異常時報警提示 ④過流保護：機臺主要部件（壓縮機、循環(huán)馬達、水塔水泵等）電流異常時報警停機 ⑤欠相保護：主電源相序異常影響正常工作時報警提醒 |
可滿足標準：
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件 GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件 GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)） GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則 GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗 GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗 GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗
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