武漢光電通信快速溫度變化試驗(yàn)箱

適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變通條件下的適用性試驗(yàn)。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗(yàn)。

快速溫變?cè)囼?yàn)箱調(diào)試校準(zhǔn)的目的

1.在有負(fù)載條件校準(zhǔn)：

此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準(zhǔn)確地評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱性能的影響，易于獲得測(cè)試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)箱的詳細(xì)信息

缺點(diǎn)是：當(dāng)更換測(cè)試樣品時(shí)，需重新校準(zhǔn)

2.在無(wú)負(fù)載條件校準(zhǔn)：

此方法的優(yōu)點(diǎn)：快速溫變?cè)囼?yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都獲得了校準(zhǔn)，能夠?qū)焖贉刈冊(cè)囼?yàn)箱的適用性做出有效評(píng)估

缺點(diǎn)：不能評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱造成的影響

3.使用過(guò)程中的實(shí)際測(cè)量

此方法不僅具有和上述方法一樣的特點(diǎn)。而且能夠獲得測(cè)試品在環(huán)境過(guò)程中全面參數(shù)，往往在對(duì)環(huán)境的要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí)采用

缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗(yàn)時(shí)都需要測(cè)量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時(shí)采用無(wú)負(fù)載條件下校準(zhǔn)方法

通過(guò)對(duì)快速溫變?cè)囼?yàn)箱的調(diào)試校準(zhǔn)工作，盡量模擬出較為可靠的試驗(yàn)環(huán)境，可以讓試驗(yàn)箱在用戶手上發(fā)揮其大功效和穩(wěn)定性。

快溫變?cè)囼?yàn)箱使用說(shuō)明書(shū)

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