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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車(chē),電氣 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
重慶ESS溫度快速變化試驗(yàn)箱
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。溫度快速變化試驗(yàn)箱 快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī)
主要用途： 重慶ESS溫度快速變化試驗(yàn)箱是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn) 行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯注的效果。 |
快速溫變?cè)囼?yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介
快速溫變?cè)囼?yàn)箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。
快速溫變?cè)囼?yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
♦ GB/T5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；
♦ GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》；
♦ GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Bb》；
♦ IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分試驗(yàn).試驗(yàn)N溫度的改變》。
