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江門高低溫沖擊試驗箱

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更新時間:2023-01-31 12:56:05瀏覽次數(shù):735

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產(chǎn)品簡介

江門高低溫沖擊試驗箱適用于電子、電工產(chǎn)品和其他軍用設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗,也是篩選電子元器件初期故障的Z佳助手。

詳細介紹

簡單介紹

江門高低溫沖擊試驗箱設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性;

 

江門高低溫沖擊試驗箱  的詳細介紹

*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;

*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
 

 

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標稱內(nèi)容積(升)

80

150

200

300

試驗方式

氣動風門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預熱溫度范圍

60~+200

升溫速率※1

60→+200℃≤20分鐘

低溫室

預冷溫度范圍

-78-0

降溫速率※1

20→-75℃≤80分鐘

試驗室

溫度偏差

±2

溫度范圍

TSL:(+60+125→(-40--10);

TSU:+60~+150)-55~-10);

TSS:+60~+150)-65~-10)

溫度恢復時間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

內(nèi)部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。

2恢復條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)


 冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格符合此規(guī)格可配增加此功能可配增加LN2功能

試驗規(guī)范

 駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時間(Min)
(exposure time)

覆歸時間
(recovery time)

 周期
或次數(shù)

試驗起
始點

備注

適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

----

0

+125

+15

----

0

-10

+150

+15

----

0

+150

+15

-65

0

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)
+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15~30 Min
28~136g
30Min
136g~1.36Kg
60Min
1.36~13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

0

-3

+125

+3

-65

0

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

----

0

-5

JIS C 0025 
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動轉(zhuǎn)
移時間
2~3Min

為駐留時間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto 
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

  

  

----

IPC 2.6.7+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)

Transfer time
不超過2 min

-0

-5

+85

+5

-40

+0

-0

-5

+105

+5

-55

+0

-0

-5

+105

+5

-65

+0

----

-0

-5

+105

+5

  

----

-0

IPC 2.6.6+85

+3

-25+10-55

+0

30 Min

10-15 
Min
 5 cycle  

-0

-5
+125

+3

-5-65+0

----

-0

-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70

±2

----

 

≧10min
≦15min

----

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

  

 
+80

±2

 
JESD22
A104-A
+125

+10

 

-40

+0

≦15min

 

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

 

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

-0

-10

+85

+10

-55

+0

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

+0

----

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