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環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題 

一、概況

    環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，這就需要有*，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。

    我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）宏展儀器及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.。

    二、環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

    1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項：

    GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件     GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件

    GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件     GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

    GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件     GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

    GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件     GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

    GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件 

    2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題

    1）適用范圍

    在上述的九項標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。

    2）適應(yīng)性

    按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。

    3）操作性

    設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。

    4）修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處

    九項設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

    3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項

    1）對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項

    A）溫度：15℃~35℃

    B）相對濕度：不大于85%RH

    C）大氣壓強：86Kpa~106Kpa 

    D）熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射

    E）氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上

    F）電磁場：無強烈電磁場

    G）三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

    H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa

    I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm

    J）電源：220±22V、380±38V、50±0.5Hz

    2）負(fù)載要求：

    A）負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗除外）

    B）負(fù)載條件：

•     負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
•     負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5
•     阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
•     鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm
•     種類：金屬
•     樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計）

    三、環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（氣候試驗設(shè)備）

 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項：

    GB/T5170.2－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

    GB/T5170.5－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

    GB/T5170.8－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備

    GB/T5170.9－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備

    GB/T5170.10－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

    GB/T5170.11－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

    2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題

    1）標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。

    2）適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。

    3）操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。

    3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點：

    1）各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。

    2）對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用

    3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。

    4）負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。

    四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

    五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇

    1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。

    2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗設(shè)備進行檢定。

 3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

    六、進行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點

    1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度

    2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響

    3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件 高低溫試驗箱

    4、適當(dāng)選擇試驗的嚴(yán)酷度

    七、結(jié)束語

    通過對環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。

附1　環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)對測試用負(fù)載條件

匯　　總　　表

附2　我國環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備使用基本環(huán)境條件對照表