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篤摯儀器（上海）有限公司 |
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COULOSCOPE CMS2-菲希爾庫侖測厚儀及配件代理
菲希爾庫侖法測試儀可對電鍍件上的各種鍍層進(jìn)行厚度測量。
電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層厚度、同層厚度、鋅層測厚、錫層測厚、銀層厚度、金層厚度、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復(fù)合測量模式等特點，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
電解測厚儀是利用法拉第原理設(shè)計，其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。庫侖法測厚是對被測部分的金屬鍍層進(jìn)行局部陽極溶解，通過陽極溶解鍍層達(dá)到基體時的電位變化及所需時間來進(jìn)行鍍層厚度的測量。
產(chǎn)品特點：
| 1 | V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能 |
| 2 | 大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果 |
| 3 | Couloscope CMS2庫侖法測厚儀德國fischer*測厚儀，使用庫侖析法電解鍍層,符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn) |
| 4 | COULOSCOPE CMS地測量范圍在0.05 - 40 μm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。 |
| 5 | 使用庫侖方法測量鍍層厚度，配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。適用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。 |
庫侖分析法創(chuàng)立于1940年左右，其理論基礎(chǔ)就是法拉第電解定律。庫侖分析法是對試樣溶液進(jìn)行電解，但它不需要稱量電極上析出物的質(zhì)量，而是通過測量電解過程中所消耗的電量，由法拉第電解定律計算出分析結(jié)果。為此，在庫侖分析中，必須保證：電極反應(yīng)專一，電流效率*，否則，不能應(yīng)用此定律。以測量電解過程中被測物質(zhì)在電極上發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)所消耗的電量來進(jìn)行定量分析的一種電化學(xué)分析法。
根據(jù)電解方式分為控制電位庫侖分析法和恒電流庫侖滴定法。
①控制電位庫侖分析法。在電解過程中，將工作電極電位調(diào)節(jié)到一個所需要的數(shù)值并保持恒定，直到電解電流降到零，由庫侖計記錄電解過程所消耗的電量，由此計算出被測物質(zhì)的含量。
德國庫倫測厚儀Couloscope CMS2
COULOSCOPE CMS STEP介紹：
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
COULOSCOPE CMS 測量原理：
測量原理 這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。
測量印刷線路板上剩余純錫的厚度
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度：
d:
鍍層厚度 [µm]
eÄ:
電化學(xué)當(dāng)量 [g/As]
I:
電解電流 [A] γ: 電解效率
t: 電解時間 [s] A: 電解面積 [cm2] ρ: 電解鍍層材料密度 [g/cm3]
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電 解液*利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。
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