雷尼紹代理銷售三坐標測量探頭TP200
TP200/TP200B測頭本體
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復(fù)性和的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意，我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應(yīng)變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。
TP200系統(tǒng)組件包括：
- TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
- TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
- PI 200-3測頭接口
- SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（擴展越程），越程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
特性與優(yōu)點
- 應(yīng)變片技術(shù)具備優(yōu)異的測量重復(fù)性和的3D空間形狀測量精度
- 零復(fù)位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測量能力
- 測針測量距離達100 mm（GF測針）
- 測頭模塊快速交換，無需重新標定測尖
- 壽命 >1000萬次觸發(fā)
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|
主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場合。 |
感應(yīng)方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2s µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：±0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：±0.50 µm |
XY（2D）輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm |
測針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
越程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
zui長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的zui大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊
測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭越程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測力。
模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長越程） |
|---|
應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。 | 額外越程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針zui長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的越程測力相同。 測頭Z軸的額外越程為8 mm。 |
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