詳細介紹
fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀
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X射線鍍層測厚儀簡介:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應用領域有:
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?br />
設計理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以準確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的準確調(diào)整。
所有的儀器操作,以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器,型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。
通用規(guī)格
設計用途:能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,多可同時測定24種元素
設計理念:臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向:由上往下
X射線源
X射線管:帶鈹窗口的鎢管
高壓: 三檔: 30 kV,40 kV,50 kV
孔徑(準直器): Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸:取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大小約Ø 0.2mm
X射線探測
X射線接收器:測量距離
比例接收器:0 ~ 80 mm,使用**保護的DCM測量距離補償法
樣品定位
視頻系統(tǒng):高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸) 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于準確定位樣品
放大倍數(shù):40x – 160x
電氣參數(shù)
電源要求:220 V ,50 Hz
功率:大 120 W (不包括計算機)
保護等級:IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸:寬×深×高[mm]:570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸:寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品大高度”部分的說明)
重量:107 kg
環(huán)境要求
使用時溫度:10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度:0°C – 50°C
空氣相對濕度:≤ 95 %,無結(jié)露
工作臺
設計:手動X/Y平臺
X/Y平臺大移動范圍:95 x 150 mm
可用樣品放置區(qū)域:420 x 450 mm
Z軸:馬達驅(qū)動
Z軸移動范圍:140 mm
樣品大重量:20kg
樣品大高度:140 mm
激光(1級)定位點:有
計算單元
計算機:帶擴展卡的Windows®計算機系統(tǒng)
軟件 標準: WinFTM® V.6 LIGHT
可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
執(zhí)行標準
CE合格標準:EN 61010
型式許可:作為受*保護的儀器 型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。