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QNix4200 涂層測厚儀這兩種型號分為一體式和分體式，只需調(diào)零無需校準，使用極其簡 單，測值迅速。 QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度。（Fe） QNix®4500（含 QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5 可測量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導電涂層厚度。（Fe/NFe 雙用）
特點：
零位穩(wěn)定： 所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位， 可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。 儀器零位的穩(wěn)定是保證測量的前提。 一臺好的測厚儀校零后， 可以長時間保持零位不漂移， 確保準確測量。無需校準:多數(shù)涂層測厚儀除了校零外， 還需要用標準片一進行調(diào)校。 測量某一范圍厚度， 要用某一范圍的標準片調(diào)校。 主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。 不僅操作煩瑣， 而且也會因標準片表而粗糙失效， 增大系統(tǒng)誤差。 尼克斯涂層測厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準確溫度補償： 涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。 同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。 所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術(shù)， 以保證不同溫度下的測量精度。紅寶.石探頭： 探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。 普通金屬接觸探頭， 其表而磨損后會帶來很大的誤差。*的直流采樣技術(shù)：使得測量重復性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
QNix 4200金屬涂層測厚儀 技術(shù)參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | 可以 |
非磁性基體(NFe模式) | 不可以 |
測量范圍 | Fe:0-3000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) | |
1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
zui小接觸面 | 10×10mm/QNix4200 |
zui小曲率半徑 | 凸面：3mm；凹面：25mm |
zui小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
使用說明
儀器使用：
1.開機： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實，儀器將自動開機。（使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開被測物 10cm 以上，再進行下次測量。）
2.設(shè)置： 開機后按紅色按鍵進入菜單，QNix4500 為 4 個選項，QNix4200 為 2 個選 項，
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量）。按紅鍵進入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進行選擇，將光標在選項上停留 2 秒后，進 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測量模式，這時儀器進入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作。
進入“取平均值”選項后，儀器顯示取平均值，在“開”選項上停留 2 秒后，取平均值開啟，測量時顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號時表示取平均值開啟，如不需要請關(guān)閉（在取平均值選項里選擇“關(guān)”）即可。