德國(guó)Mahr Perthometer S2粗糙度儀總代理
特征:
• 依照現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)可實(shí)現(xiàn)粗糙度和波度測(cè)量
(DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
• 重量輕 (不包括內(nèi)置充電電池)
• 高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測(cè)量結(jié)果和輪廓
• 基于自動(dòng)測(cè)量原理和多測(cè)量元素, 使得操作更簡(jiǎn)單
• 通過(guò)內(nèi)置熱敏打印機(jī), 快速打印測(cè)量記錄
• PCMCIA 存儲(chǔ)卡可存儲(chǔ)測(cè)量程序、測(cè)量結(jié)果和輪廓
• S2Prog 擴(kuò)展程序, 可簡(jiǎn)單地建立測(cè)量程序
• 用途廣泛和簡(jiǎn)易應(yīng)用的軟件功能, 例如:
- 自動(dòng)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)濾波器和掃瞄長(zhǎng)度功能
- 校準(zhǔn)和維護(hù)周期監(jiān)察功能
- 弧線(xiàn)濾除功能
- 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)校準(zhǔn)程序
- 多達(dá) 41 種評(píng)定參數(shù), 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 輪廓及特性曲線(xiàn), 并可設(shè)定
MRC/ADC 不同比例縮放
- 濾波器和掃瞄長(zhǎng)度可選
- 公差監(jiān)控, 以聲音和圖標(biāo)提示
- 密碼保護(hù)功能, 防止錯(cuò)誤的設(shè)置和修改
- 內(nèi)置統(tǒng)計(jì)功能
- 獨(dú)立功能按鍵
- 簡(jiǎn)易呼出和打印測(cè)量記錄及各種功能
• 通過(guò) PCMCIA 記憶于進(jìn)行軟件升級(jí)
• SPC 接口可實(shí)現(xiàn) S2 與生產(chǎn)程序連接
• RS 232 接口可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和遠(yuǎn)程控制
測(cè)量原理 探針接觸測(cè)量法
測(cè)量范圍
范圍/分辨率 ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長(zhǎng)/垂直范圍
11,200 測(cè)量點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn)掃瞄長(zhǎng)度
標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類(lèi)型 R, D, P, W (輪廓可例轉(zhuǎn))
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div. 或自動(dòng)
(3.937 μin/div. 至 .197 in/div.)
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div. 或自動(dòng)
用于評(píng)定長(zhǎng)度輪廓 (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.)
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長(zhǎng)度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長(zhǎng)度 1/2/4/8/12/16 mm
(MOTIF) (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長(zhǎng)度 0.56 至 120.00 mm, 可調(diào)
(.022 in 至 4.724 in)
取樣長(zhǎng)度個(gè)數(shù) 1 至 5, 可選
濾波器 (根據(jù) ISO/JIS) 相位濾波器 (高斯濾波器), 按照
DIN EN ISO 11562 標(biāo)準(zhǔn)
特殊濾波器 按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波長(zhǎng) lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波長(zhǎng) lc/可選 有
參數(shù) Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq,
(帶有公差極限) Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, , Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)
參數(shù)表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
Nf; CR/CF/CL (輪廓種類(lèi)可選, 基線(xiàn)
和交叉線(xiàn)可調(diào))
特征曲線(xiàn) 輪廓圖, 材質(zhì)比率(Abbott 曲線(xiàn)), 震
幅密度; (輪廓種類(lèi)可選)
校準(zhǔn)功能 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)
公差監(jiān)控 有, 大/小
自動(dòng)功能 有, 選擇標(biāo)準(zhǔn)濾波器和掃瞄長(zhǎng)度
統(tǒng)計(jì) 每個(gè)測(cè)量程序10 個(gè)參數(shù)
X, S, R; Max, Min, 多 200 個(gè)測(cè)量
超差結(jié)果統(tǒng)計(jì)
無(wú)效測(cè)量統(tǒng)計(jì)
13種語(yǔ)言 英語(yǔ), 德語(yǔ), 法語(yǔ), 意大利語(yǔ), 葡萄
牙語(yǔ), 西班牙語(yǔ), 瑞典語(yǔ), 丹麥語(yǔ),
捷克語(yǔ), 波蘭語(yǔ), 中文, 韓語(yǔ), 日本
軟件 S2Prog Windows 程序;
MarSurf XR 20 (可選)
密碼保護(hù) 有
日期/時(shí)間 有
單位 mm/inch 可選
存儲(chǔ) PCMCIA 記憶卡用來(lái)存儲(chǔ)輪廓、測(cè)
量結(jié)果、測(cè)量程序/ 內(nèi)置存儲(chǔ)測(cè)量結(jié)
果和統(tǒng)計(jì)
顯示 帶背景光的 LCD 圖像顯示, 黑白480 x
320 像素, 輪廓演示
鍵盤(pán) 薄膜鍵盤(pán)
打印機(jī) 熱敏圖表打印機(jī),
384 點(diǎn)/行;
8 點(diǎn)/mm (200 點(diǎn)/in)
打印速度 5 mm/s (.2 in/s)
打印 自動(dòng)/手動(dòng), 記錄日期和/或時(shí)間
尺寸 (高x闊x深) 約 150 x 320 x 250 mm
(5.906 x 12.600 x 9.843 in)
裝置防護(hù)等級(jí) IP 40;
鍵盤(pán)防護(hù)等級(jí) IP 54;
溫度范圍
存儲(chǔ) –15 to +55 °C (41°F to 104°F)
操作 +5 to +40 °C (5°F to 131°F)
相對(duì)濕度 30 % to 85 % (非壓縮)
重量 < 3 kg (6.6 lbs)
電源 拔插電源9 V; 鎳鎂電池
充電情況顯示 有顯示
電源管理 有
連接 驅(qū)動(dòng)器, RS 232 C 和 SPC 接口, 拔插
電源, PCMCIA 卡槽, 保險(xiǎn)絲
電感傳感器 運(yùn)送頻率 20 kHz
傳感器種類(lèi)/ R-系列 (滑塊):
測(cè)量范圍
(設(shè)定 2 μm ±50/250 μm (± 2000 μin/10,000 μin)
(.00039 in)/90°) MFW (skidless): ±250 μm (10,000 μin)
FRW (skidless) (10 μm (400 μin), 90°):
± 750 μm (30,000 μin)
Focodyn, LS1/LS10 (選配):
± 250 μm (10,000 μin)
測(cè)量力 R-系列: 約 0.7 mN
MFW: 0.7 mN / FRW: 6 mN
Focodyn/LS 1/LS 10: 激光
驅(qū)動(dòng)器 PZK, GD 25, PGK 120, PRK 通過(guò) PAV 62
測(cè)量速度 0.1 和 0.5 mm/s (.0394 和 0.197 in/s)
主營(yíng)設(shè)備有如下:
粗糙度儀,表面輪廓儀,圓度儀,圓柱度儀,淬火硬化層深無(wú)損測(cè)量?jī)x,零部件清潔度檢測(cè)系統(tǒng),關(guān)節(jié)臂,三坐標(biāo)探頭測(cè)針,工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量?jī)x,光譜儀,測(cè)高儀,測(cè)長(zhǎng)機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,高精度涂鍍層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀,硬度計(jì),滲碳層測(cè)厚儀,滲氮層深度無(wú)損檢測(cè)儀,紅外熱像儀,紅外測(cè)溫儀,投影測(cè)量?jī)x,影像測(cè)量?jī)x,材料試驗(yàn)機(jī),門(mén)尼粘度計(jì),測(cè)振儀等精密測(cè)試測(cè)量?jī)x器。