MiniTest 740測厚儀-智能數(shù)字化技術應用
SIDSP技術-技術,智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術生產(chǎn)。
篤摯儀器(上海)有限公司主要銷售的檢測儀器有: 關節(jié)臂、粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀、淬火硬化層深無損測量儀、滲碳層測厚儀、滲氮層深度無損檢測儀、零件清潔度檢測系統(tǒng)、工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、投影儀、影像儀、光譜儀、測高儀、測長儀、齒輪嚙合儀、齒輪測量中心、超聲波探傷儀、超聲波測厚儀、涂鍍層測厚儀、硬度計、紅外熱像儀、紅外測溫儀、推拉力計和扭力計、氣體檢測儀、測振儀、手持激光測速儀、渦流探傷儀等精密測試測量儀器。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術,同時應用在現(xiàn)代通訊技術(手機網(wǎng)絡)方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術生產(chǎn)。
SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術,同時應用在現(xiàn)代通訊技術(手機網(wǎng)絡)方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。
為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。
SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。
高度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上進行校準,大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精準,將測量錯誤降至zui低。
SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生!
SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇!
SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。
主機技術數(shù)據(jù)表
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置) | ||
校準程序符合標準和規(guī)范 | ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |