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貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地：上海
更新時間：2024-09-09 21:00:07
有效期：2024年9月9日 -- 2025年3月9日
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一、實驗目的：
1、利用凈輻射比較法，定性地測量中溫輻射時物體黑度。
2、測出“待測體”和“黑體”（表面已薰黑）兩種狀態(tài)的受體在恒溫條件下受到輻射后的溫度。
二、主要配置：
發(fā)射體、傳導體，受體：原色受體、表面熏黑受體；溫度顯示分辨率為0.1℃的PT100熱電阻，PID調節(jié)控溫測溫儀表，50V直流穩(wěn)壓電源，高精度PID調壓加熱電子集成調壓模塊，數(shù)顯直流電壓表及電流表，可配套不銹鋼實驗臺等。
三、技術參數(shù)：
1、輸入電源：單相AC220V±10% 50Hz，功率600W。
2、加熱器功率：3組×200W ，加熱溫度：≤100℃。 通過對三組加熱器電壓的調整使熱源、傳導體的測溫點恒定在一定溫度，然后測量輻射后的溫度。
3、溫度測量：測量系統(tǒng)配置有智能溫度控制儀表（PID調節(jié)控溫，精度±0.2℃），高精度PID調壓模塊電路。
4、外形尺寸：500×300×400mm，外形為不銹鋼支架。
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