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上海康登電氣科技有限公司
主營產(chǎn)品： JDX-L-10kv高壓接地線,HXTL鋁合金外殼滑觸線,ZK-1型振動(dòng)監(jiān)控儀 |
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2024-11-4 閱讀(126)
3.1、KD5310高壓絕緣電阻測(cè)試儀系統(tǒng)介紹
1) 交流電源插頭及指示燈：用于接入AC220V 50HZ/60HZ交流電，給電池充電。
2) 液晶顯示屏：用于顯示交互信息與測(cè)試結(jié)果。
3) 開關(guān)鍵：執(zhí)行儀器開機(jī)/關(guān)機(jī)操作，以及屏幕對(duì)應(yīng)位置的功能操作。
4) 功能按鍵：執(zhí)行屏幕對(duì)應(yīng)位置的功能操作。
5) 測(cè)試按鈕：調(diào)整好參數(shù)后，按住此按鈕1秒開始測(cè)試，再次按下停止測(cè)試（進(jìn)入設(shè)置菜單時(shí)無效）。
6) 測(cè)試端子L(-)：用于接被測(cè)設(shè)備的導(dǎo)體部分。
7) 測(cè)試端子G：用于接保護(hù)環(huán)或屏蔽層。
8) 測(cè)試端子E(+)：用于接被測(cè)設(shè)備的外殼，同時(shí)設(shè)備外殼應(yīng)與大地可靠連接。
3.2、接線
測(cè)量線路絕緣電阻時(shí)，L柱接導(dǎo)線，E柱接地；
測(cè)量電機(jī)繞組的絕緣電阻時(shí)，L柱接電機(jī)繞組引線，E柱接電機(jī)外殼同時(shí)接地；
測(cè)量繞組之間的絕緣電阻，L和E兩列分別接兩個(gè)繞組引線；
測(cè)量電纜對(duì)地絕緣電阻時(shí)，L柱接電纜芯線、E柱接電纜外表面同時(shí)接地、G柱接電纜屏蔽層。
G端(保護(hù)環(huán))的使用（本機(jī)為低電壓側(cè)屏蔽）
測(cè)量高絕緣電阻時(shí)，應(yīng)在試品兩測(cè)量端之間的表面上套一導(dǎo)體保護(hù)環(huán)，并將該導(dǎo)體保護(hù)環(huán)用一測(cè)試線連接到儀表的G端，以消除試品表面泄漏電流引起的測(cè)量誤差，保障測(cè)試準(zhǔn)確。尤其在對(duì)儀表檢定時(shí)G端應(yīng)接在電阻箱的的G端，以保證正常檢定。
3.3、開機(jī)
按開機(jī)鍵，蜂鳴器“滴"的響一聲，儀器開機(jī)，進(jìn)入初始界面，如下圖：
儀器開機(jī)后，無操作時(shí)，3分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)。
3.4、測(cè)試電壓設(shè)置
在初始界面，按電壓對(duì)應(yīng)的按鍵，界面左上角的測(cè)試電壓循環(huán)顯示，500V、1000V、2500V、5000V、10000V，直至顯示所需測(cè)試電壓，設(shè)置完成。
3.5、測(cè)試時(shí)長(zhǎng)設(shè)置
在初始界面，按時(shí)長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的按鍵，界面右上角的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)循環(huán)顯示00:30、01:00、10:00、30:00，直至顯示所需測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，設(shè)置完成。
3.6、短路電流設(shè)置
在初始界面，按4對(duì)應(yīng)的按鍵，界面翻頁至下一界面，如下圖
在此界面，按電流對(duì)應(yīng)的按鍵，短路電流值循環(huán)顯示2mA、3mA、4mA、5mA，直至顯示所需短路電流，設(shè)置完成。通常設(shè)置為最大值即可，也可依據(jù)規(guī)程規(guī)定的短路電流值選擇。
3.7、濾波設(shè)置
在上圖中所在界面，按濾波對(duì)應(yīng)的按鍵，濾波參數(shù)循環(huán)顯示 關(guān)、小、中、大，直至顯示所需濾波參數(shù)，設(shè)置完成。
關(guān)：無濾波；（無干擾情形下推薦）
小：硬件低通濾波；（適用于多數(shù)情形）
中：軟件低通濾波；（大于100G高阻時(shí)推薦選擇）
大：軟件+硬件低通濾波；（大于1T高阻時(shí)推薦選擇）
3.8、測(cè)試
確認(rèn)接線正確牢固，按照需要設(shè)置完成后，按測(cè)試按鈕一秒鐘，開始測(cè)試。（測(cè)試過程中，再次按下此按鈕，停止測(cè)試，或等計(jì)時(shí)完成后自動(dòng)停止測(cè)試）。測(cè)試界面如下圖：
其中：0509V——實(shí)際測(cè)試電壓
00:09 ——測(cè)試時(shí)長(zhǎng)計(jì)時(shí)
122GΩ——絕緣電阻值(1000kΩ=1MΩ，1000MΩ=1GΩ，1000GΩ=1TΩ)
4.16nA ——泄露電流(1mA=1000μA，1μA=1000nA)
下方黑柱——絕緣電阻模擬柱。
等設(shè)置時(shí)間到，測(cè)試自動(dòng)停止，顯示測(cè)試結(jié)果界面，如下圖：
其中：DRA為吸收比，PI為極化指數(shù)（請(qǐng)參考3.9吸收比與極化指數(shù)）。
Rt：查看15S、30S、60S、600S時(shí)的電阻值，查看結(jié)果如下圖：
用戶可摘錄所需數(shù)據(jù)。
3.9、吸收比與極化指數(shù)
極化指數(shù)PI和吸收比DAR都表示被測(cè)物承受測(cè)量電壓后一段時(shí)間內(nèi)絕緣電阻的變化情況。
由于給設(shè)備加直流電壓的時(shí)間長(zhǎng)度不同，對(duì)設(shè)備的潮濕等狀況的影響不同，因此比較兩個(gè)時(shí)刻的比值，可以判斷設(shè)備是否是因?yàn)槌睗竦脑蛴绊懥私^緣性能。
對(duì)于一般的絕緣測(cè)試，如外殼絕緣、工具手柄等一般在較短時(shí)間能測(cè)試出隨施加電壓時(shí)間增加漏電流是否增加情況，所以一般用較短時(shí)間的試驗(yàn)就能測(cè)試出來，短時(shí)間測(cè)試的絕緣電阻比值DAR稱為吸收比（一般在1.2以上為合格），但對(duì)于大容量和吸收過程較長(zhǎng)的被測(cè)品，如變壓器、發(fā)電機(jī)、電纜、電容器等電氣設(shè)備，有時(shí)吸收比值（DAR）尚不足以反映吸收的全過程，可采用較長(zhǎng)時(shí)間的絕緣電阻比值，即10分鐘時(shí)的絕緣電阻（R10min）與l分鐘時(shí)的絕緣電阻（R1min）的比值PI來描述絕緣吸收的全過程，PI稱為極化指數(shù)。
DRA——吸收比（DAR=R60/R15）設(shè)置測(cè)試時(shí)長(zhǎng)需≥1分鐘
PI——極化指數(shù)（PI=R600/R60）設(shè)置測(cè)試時(shí)長(zhǎng)需≥10分鐘
3.10、屏幕對(duì)比度設(shè)置
如果用戶感覺屏幕不清楚，可以調(diào)節(jié)屏幕對(duì)比度。
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，按住2鍵不放（第二個(gè)鍵），
按1鍵（開機(jī)鍵）開機(jī)，直到進(jìn)入對(duì)比度調(diào)節(jié)菜單；
按1鍵或2鍵調(diào)節(jié)對(duì)比度，直到用戶認(rèn)為對(duì)比度合適；
按4鍵保存并退出，如果不需要調(diào)節(jié)則按3鍵退出。
4.1、測(cè)試過程注意事項(xiàng)
1) 確認(rèn)被測(cè)試品安全接地，試品不帶電。
2) 確認(rèn)儀表E端(接地端)已接地。
3) 請(qǐng)勿在易燃場(chǎng)所測(cè)試，火花可能會(huì)引起爆炸。
4) 請(qǐng)勿在儀器表面潮濕或操作者手潮濕時(shí)操作。
5) 在測(cè)量時(shí)或測(cè)試后請(qǐng)勿立刻觸摸被測(cè)回路，可能導(dǎo)致觸電事故。
6) 測(cè)試線或端口發(fā)現(xiàn)易損害絕緣特性的污垢或炭化物時(shí)請(qǐng)停止測(cè)試。
7) 確定所有測(cè)試導(dǎo)線與儀表的測(cè)試端口連接牢固。
8) 測(cè)量前，確認(rèn)電壓選擇在適當(dāng)?shù)闹怠?/span>
9) 測(cè)試過程中，禁止移動(dòng)測(cè)試線或斷開測(cè)試線路。
10) 請(qǐng)使用濕布或清潔劑來清潔儀器外殼，請(qǐng)勿使用研磨劑或溶劑。
