美國Ultrafast光譜儀
天津西納智能科技有限公司銷售美國Ultrafast光譜儀
主要產(chǎn)品：
美國Ultrafast光譜儀、高速光譜儀、納秒瞬態(tài)吸收光譜儀、可調(diào)皮秒光源。
品牌簡介：
Ultrafast Systems成立于2002年，總部位于佛羅里達(dá)州。專注于時間分辨激光光譜儀的設(shè)計和制造。產(chǎn)品系列包含許多光譜儀，它們的光譜和時間覆蓋范圍非常廣，可用于吸收和發(fā)射測量。產(chǎn)品易于使用，在很大程度上都是自動化的，而有些則具有全自動的功能。通過多年來不斷地研究創(chuàng)新，為客戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品及服務(wù)，滿足客戶需求。
應(yīng)用：
光物理、光化學(xué)、光生物學(xué)、材料科學(xué)、納米科學(xué)以及太陽能轉(zhuǎn)換和存儲。
相關(guān)產(chǎn)品介紹：
EOS IR是一款寬帶中紅外泵浦探頭納秒瞬態(tài)吸收光譜儀。作為一個完整的交鑰匙系統(tǒng)，EOS IR可以在較大的時間窗口內(nèi)以納秒級的時間分辨率（可調(diào)整至亞毫秒級）測量寬范圍（2-13 µm）光譜范圍內(nèi)光誘導(dǎo)的吸光度變化。雖然EOS IR可以作為獨(dú)立的光譜儀使用，但通常與我們的寬帶泵浦探針飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀HELIOS IR集成在一起。 EOS IR和HELIOS IR共享大部分組件，包括光學(xué)元件和檢測器。因此，使集成 成本效益。集成后，HELIOS IR和EOS IR覆蓋了從皮秒到亞毫秒的時間范圍，沒有任何間隙。
探針光譜范圍：通常為2-13 µm。可擴(kuò)展至20 µm。
可變光譜分辨率和光譜范圍：
當(dāng)EOS-IR與陣列（多像素）檢測器一起使用時，必須能夠改變將探針光譜成像到傳感器上的分辨率。這使得可以確保解析出所需的光譜特征，并且還可以控制所采集的光譜范圍。為此，我們利用三光柵成像光譜儀（320毫米； f / 4.1）來實現(xiàn)不同的檢測帶寬和光譜分辨率。
該系統(tǒng)標(biāo)配以下光柵：
3-9 µm，0.4 µm帶寬，分辨率為6.2 nm
4-10 µm，0.8 µm帶寬12.4 nm分辨率
3-9 µm，1.2 µm帶寬18.6 nm分辨率
亞毫秒級時間范圍內(nèi)的亞納秒分辨率：
EOS IR是一種泵浦探針式光譜儀，具有基于連續(xù)光電方法的常規(guī)閃光光解法無法實現(xiàn)的時間分辨率。在EOS IR中，泵探測延遲是電子控制的，并且max時間窗口非常接近泵激光器重復(fù)周期的一半?？梢詫ax時間窗計算為：（泵浦激光重復(fù)周期）/ 2-100 µs。例如，對于1 kHz泵浦激光器，該值為400 µs。
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