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篤摯儀器(上海)有限公司
參考價: | 面議 |
- 產(chǎn)品型號
- Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問次數(shù):2336更新時間:2024-09-26 21:32:23
- 聯(lián)系人:
- 王存帆
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- 02-58951071
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- 地址:
- 上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號5號樓311室
- 個性化:
- www.fischerchina.cn
- 網(wǎng)址:
- www.dooz17.com/
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價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。
菲希爾 X-RAY
一一FISCHERSCOPE® X-RAY 系列產(chǎn)品X射線熒光鍍層測厚儀、材料分析儀
從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今,菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用,滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前,有超過10000臺X射線儀器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大,可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。
X射線熒光分析法 (XRFA):
能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能*勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
X射線熒光法(XRFA)的優(yōu)點:
- 快速無損的鍍層厚度測量(單層或多鍍層)
- 分析固態(tài),粉末或液態(tài)樣品
- 有害物痕量分析
- 高精度和準確度
- 十分廣泛的應(yīng)用
- 準確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料
- 樣品制備非常簡單
- 測試方法安全,沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品
- 無耗品,物超所值
FISCHERSCOPE XUL | FISCHERSCOPE XULM | ||
一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。 它配備了一個固定的準直器和濾片,射線管出射 點稍大,非常適合測量點在1mm以上的應(yīng)用。低 能射線元件激發(fā)效率較低;但是對于標準的測量典 型電鍍層厚度的應(yīng)用,如Cr、Ni、Cu,沒有任何問題。 | 多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層(如50 nm Au或100 μm Sn)都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率可以被比例接收器接收到。 | ||
FISCHERSCOPE XAN 110/120 | FISCHERSCOPE XAN | ||
專門為分析金合金開發(fā)的劃算的儀器。比較 XAN而言,只有一個固定的準直器和固定的 濾片,特別適合貴金屬分析。XAN 110配備 比例接收器,適于幾種合金元素的簡單分析。 XAN 120配備了半導(dǎo)體接收器,更可以應(yīng)用于 多元素的復(fù)雜分析。 | 分析儀器,測量方向從下到上。用途廣泛。測量室全封閉,可以使用大準直器分析,高計數(shù)率也可以被硅漂移探測器處理。激發(fā)和輻射檢測方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質(zhì)痕量分析的理想儀器。 | ||
FISCHERSCOPE XDL | FISCHERSCOPE XDLM | ||
適合鍍層厚度測量的耐用儀器,即使大測量距 離也可以測量(DCM,范圍0-80mm)。配 備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量 點在1mm以上的應(yīng)用;跟XUL類似。可選用自 動測量的可編程工作臺。 | 比XDL適用面更廣,配備微聚焦管,4個可切換的準直器和3個基本濾片。測量頭 | ||
FISCHERSCOPE XDAL | FISCHERSCOPE XDV-SDD | ||
與XDLM類似但配備了半導(dǎo)體接收器。這樣就可 能可以分析元素和測量超薄鍍層(基于良好的信 噪比)。因為信號強度略低,不太適合測量較小的結(jié)構(gòu)。 | 適合于全部應(yīng)用的機型。根據(jù)測量點大小和光譜組成,激發(fā)方式靈活多樣。配備了硅漂移接收器,即使強度高達>100kcps的信號也可以在不損失分辨率的情況下處理 | ||
FISCHERSCOPE XDV-μ | FISCHERSCOPE | ||
于微觀分析的測量儀器。根據(jù)X射線光學(xué)部件 的不同,可以分析小到100μm或更小的結(jié)構(gòu)。強 度很高所以精度也非常好。即使很薄的鍍層,測量 不確定性小于1nm也是可能的。僅適于測量空白或 接近空白的樣品。 | 具備綜合測量能力的通用機型。與XDV-XDD相當,但另外配備了可抽真空的測量室,這樣就使得分析從原子序數(shù)Z=11(Na)開始的輕元素成為可能。高精度的馬達驅(qū)動的XYZ平臺和視頻攝像頭可以準確定位樣品位置和測量細小部件 |
篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)從事粗糙度儀、測厚儀,探傷儀,硬度計、色差儀、測色計等計量室檢測設(shè)備的推廣銷售。由于我公司代理的產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,性價格比高,所以代理商銷售網(wǎng)絡(luò)遍及華東、華南、西南、及華北地區(qū),更進一步為客戶提供完善的售后服務(wù)奠定堅實的基礎(chǔ)。為廣大客戶一步一步做好“售前技術(shù)咨詢服務(wù)”、“售中技術(shù)培訓(xùn)”、“售后技術(shù)服務(wù)”。誠信促進發(fā)展,實力鑄就品牌,我們正加倍努力爭取用更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)秀的的服務(wù)于廣大客戶朋友們共同開創(chuàng)輝煌未來。真誠與各位新老客戶長期合作,歡迎留言或電詢!