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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計

奧地利EMCOTEST硬度計

表面處理層無損檢測系統(tǒng)

公司信息

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朱經(jīng)理
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86-021-58951071
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86-021-50473901
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時間:2020-12-28 13:46:28瀏覽次數(shù):1637

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【簡單介紹】
價格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 有色金屬
儀器種類 臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,冶金,航天,汽車
Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
【詳細(xì)說明】

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率,使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測量下限。XUV非常適合測量很薄的鍍層和痕量分析。

        采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,能夠保證每一次的測量都在*佳的條件下完成。在測量的同時,可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大,樣品放置便捷,配合可編程的XYZ軸工作臺,既適合測量平面、大型板材類樣品,也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置,進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā),也非常適合過程控制和實驗室使用。

 

主要特征:

    • 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,可選鎢管和鉬管。*高工作條件:50 kV, 50W
    • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
    • 準(zhǔn)直器:4個,可自動切換,從直徑0.1mm到3mm
    • 基本濾片:6個,可自動切換
    • 可編程XYZ工作臺
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實際測量點大小。
    • 可在真空,空氣或者氦氣的環(huán)境下工作


典型應(yīng)用領(lǐng)域:

    • 測量輕元素
    • 測量超薄鍍層和痕量分析
    • 常規(guī)金屬分析鑒定
    • 非破壞式寶石分析
    • 太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用實例:

種類、來源和真實性,是評估寶石價值的本質(zhì)特征;而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常,寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物,還會伴隨有鎂和鈉等元素。另外, Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個領(lǐng)域的應(yīng)用中,非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測量這些鍍層,重復(fù)精度僅幾個納米

 

通用規(guī)格
設(shè)計用途能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)用于確定薄涂層,小結(jié)構(gòu),痕跡和合金。
元素范圍鈉(11)到鈾U(92)–同時*多24種元素
設(shè)計理念臺式單元,帶電動開口圓柱形真空室;外部真空泵;可編程電動X / Y / Z樣品臺;高分辨率彩色攝像機,放大范圍廣
測量方向向下
X射線源
X射線管帶銠靶的微焦點X射線管(可選用鎢,鉬或其他靶材)
高壓8 kV … 50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器)4倍可更改:Ø0.1毫米; Ø0.6毫米 Ø1毫米; Ø3 mm(其他按需提供)
X射線探測
X射線接收器硅漂移探測器
電氣參數(shù)
電源要求AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率max. 120 W (XUV 773 without evaluation PC and vacuum pump) 
保護(hù)等級:IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸寬×深×高[mm]:640 x 640 x 760 mm 
內(nèi)部測量室尺寸寬×深×高[mm]:400 x 390 
重量ca. 120 kg 
環(huán)境要求
使用時溫度10° C – 40°C / 50°F – 104°F 
存儲或運輸時溫度0° C – 50°C / 32°F – 122°F 
空氣相對濕度≤ 95 %,無結(jié)露
工作臺
設(shè)計電動和快速可編程X / Y / Z樣品臺
行程X-/ Y-/ Z-axis [mm]:100 x 100 x 100 
重復(fù)性X / Y / Z≤ 0,01 mm (uni-directional) 
可用樣品放置區(qū)Width x depth [mm]: 135 x 135 
樣品*大重量≤ 1 kg 
樣品*大高度100 mm 

。



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