篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel |
聯(lián)系電話
篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel |
聯(lián)系電話
參考價 | 面議 |
更新時間:2021-03-30 15:10:55瀏覽次數(shù):1206
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車 |
---|
PK-02泰勒粗糙度儀測針現(xiàn)貨嘗鮮價
泰勒粗糙度儀測針,標(biāo)準(zhǔn)探頭-112-1502 用于一般表面的測量
標(biāo)準(zhǔn)傳感器 適用于常規(guī)表面粗糙度測 量。
surtronic25測針編碼PK-02 (針尖半徑5 μm)
surtronics116測針編碼PK-03 (針尖半徑 10 μm)
Surtronic系列手持式粗糙度測量儀,擁有大型顯示屏,持久耐用的機(jī)身設(shè)計(jì),強(qiáng)大的續(xù)航 能力,多用于現(xiàn)場測量,在現(xiàn)場檢測產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化,預(yù)估產(chǎn)品的壽命。例如, 檢測渦輪片表面粗糙度的變化,作為早期缺陷和效率損失的預(yù)警信號。應(yīng)用范圍包括過程 控制,包括研磨、車削、銑削、絎磨、拋光、壓擠等,汽車行業(yè)的齒輪、連桿、缸孔、缸 體、曲軸等粗糙度儀測量;重工業(yè)包括造船業(yè)、輸油管道、鋼板等粗糙度檢測,航空航天 工業(yè)的渦輪葉片、渦輪軸、機(jī)翼復(fù)合材料及其他行業(yè)如印刷輥、地板、粘合等。集成的粗 糙度測量系統(tǒng)。能夠測量不同類型的零部件,測量結(jié)果可以儲存在內(nèi)部,或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲 存裝置,以及將測量結(jié)果打印出來用于生產(chǎn)的下一個階段或提供給用戶。
泰勒·霍普森(Taylor Hobson)開發(fā)了各種測針,以滿足客戶各種測量需求。 除了下面顯示的測針外,我們的應(yīng)用部門還會根據(jù)特定要求訂制。PK-01是小孔測針通常用于小孔,溝槽和狹窄表面。 還提供測針半徑2μm的版本??稍谌魏伪砻嫒魏胃叨葴y量,包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件,以及孔深可達(dá)70mm的能力,在不需要昂貴的墊塊支架或工裝的情況下,對非常具有挑戰(zhàn)性的測量位置進(jìn)行檢測。防滑的V型腳架設(shè)計(jì)使得該系統(tǒng)能夠用在平滑或者彎曲的表面上。測針還能夠翻轉(zhuǎn)向上測量。
測量范圍 | 400μm(0.0157in) |
分辨率 | 0.01μm(0.4μin) |
精度 | 讀數(shù)的2%+ LSDμm |
測針類型 | 感應(yīng)式 |
測力 | 150-300mg |
金剛石針尖半徑 | 5μm(200uin)除非另有規(guī)定 |
取樣長度 | 0.25, 0.8, 2.5(0.01, 0.03, 0.1in) |
濾波 | 2CR或高斯(可選 |
測量行程 | 0.25-25mm (0.01-0.98in |
測量速度 | 1mm/sec (0.04in/sec) |
顯示單位. | μm / μin |
數(shù)據(jù)輸出 | USB mini |
電源 | 3.7V鋰離子充電電池,市電或USB |
測量平面或圓柱表面
篤摯儀器(上海)有限公司代理供應(yīng)英國泰勒霍普森粗糙度儀及測針,我們的的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術(shù)的精益求精。
DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.