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篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國(guó)馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2020-05-08 10:15:45瀏覽次數(shù)：1351
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能 性，無(wú)論是拋光，粗糙的，曲面的，平面的 或者臺(tái)階表面，只要反射率在0.3%到100% 之間，都可以在同意模式里測(cè)量，而不用擔(dān) 心功能性的錯(cuò)誤。各種材料類型都可以被測(cè)量，如玻璃，液體， 照片，金屬，復(fù)合材料及粘膜。
表面能夠使用通用的數(shù)據(jù)，被量化地分 析三維與二維的表面數(shù)據(jù)，區(qū)域與容積數(shù)據(jù)
• 120種E二維參數(shù)，40種三維參數(shù)
• 計(jì)數(shù)與分類
• 自動(dòng)臺(tái)階高度測(cè)量t
標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)控制，可編程的XYZ平臺(tái)及自動(dòng) 聚焦，能夠非常容易地測(cè)量單一表面或復(fù)雜 形狀。XYZ縫補(bǔ)功能更滿足了形狀陡峭的表 面與大面積測(cè)量的需要。
Talysurf CCI Lite是基于世界*先相關(guān)相干計(jì)算法的新一代光學(xué)干涉儀，*的光學(xué)測(cè)量結(jié)果同時(shí)適應(yīng)精密工業(yè)測(cè)量與研究部門。The Talysurf CCI Lite 是一臺(tái)良好的光學(xué)干涉 儀，它采用了創(chuàng)新的，**的相關(guān)相干算法， 去尋找通過(guò)光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點(diǎn)與相位The Talysurf CCI Lite 對(duì)于高精度的3D測(cè)量 而言是無(wú)價(jià)的，通過(guò)采用不同的物鏡頭，可 以檢測(cè)不同的表面，全自動(dòng)的工作臺(tái)能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。
? 強(qiáng)大而 穩(wěn)定的Z軸掃描
? 快速自動(dòng)XY平臺(tái)與Z軸聚焦
? 靈活的Z軸范圍-2.2mmZ軸范圍(縫補(bǔ)功能> 10mm)
? 精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)-標(biāo)準(zhǔn)配置超過(guò)百萬(wàn)的采集數(shù)據(jù)
? 簡(jiǎn)單-對(duì)所有表面都只需要一種測(cè)量模式
篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國(guó)泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起，以共同對(duì)計(jì)量及試驗(yàn)技術(shù)的專注和專業(yè)，致力于在質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域，為客戶提供區(qū)域化和化的廣泛而的技術(shù)支持服務(wù)，確保操作和維護(hù)儀器的總體有效性和成本優(yōu)化，增強(qiáng)您測(cè)量和檢測(cè)的可靠性和性能。歡迎留言或電詢，或進(jìn)入篤摯網(wǎng)上儀器展廳瀏覽更多便攜式粗糙度儀Surtronic DUO和Surtronic 25的詳情。
篤摯儀器（上海）有限公司是英國(guó)泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的專業(yè)經(jīng)銷商，歡迎電詢或登陸篤摯公司主頁(yè)，查看便攜式粗糙度儀Surtronic S-100更多技術(shù)規(guī)格和配置的詳細(xì)介紹。篤摯公司將以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、優(yōu)勢(shì)價(jià)格、優(yōu)質(zhì)服務(wù)，為您提供高性價(jià)比的解決方案。
| 系統(tǒng)參數(shù) | |
| 測(cè)量方法 | 相關(guān)相干算法 |
| Z軸測(cè)量范圍 | 2.2 mm as standard (>10mm with Z stitchiing) |
| Z軸分辨率[max] | 0.01 nm [0.1 Å] |
| 噪音Noise floor (Z) | <0.08 nm [0.8 Å] 1 |
| RMS重復(fù)性精度 | <0.02 nm [0.2 Å] 2 |
| 測(cè)量面積(X, Y) | 6.6 mm (>75mm with XY stitching) |
| 測(cè)量數(shù)據(jù)點(diǎn)(X, Y) | 1024 x 1024 standard |
| XY分辨率 | 0.4 - 0.6µm (surface dependent) |
| 臺(tái)階高度重復(fù)性 | < 0.1% |
| 表面反射率 | 0.3% - 100% |
| 測(cè)量時(shí)間 | 5-40 seconds (typical |
