您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
高靈敏度X射線熒光分析儀5到30秒能測(cè)試結(jié)果
閱讀：695 發(fā)布時(shí)間：2018-11-10
X射線熒光分析儀通過(guò)位置精度較高的自動(dòng)樣品臺(tái)和高靈敏度性能，X射線熒光分析儀可以對(duì)微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對(duì)電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)測(cè)量。由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測(cè)比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
在X熒光譜儀范圍內(nèi)，與波長(zhǎng)色散譜儀（RF）方法比較，由于TXRF分析技術(shù)用樣量很少，也不需要制作樣品的煩瑣過(guò)程，又沒(méi)有本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)，不需要每次對(duì)不同的基體做不同的基體校準(zhǔn)曲線。另外由于使用內(nèi)標(biāo)法，對(duì)環(huán)境溫度等要求很低。因而在簡(jiǎn)便性、經(jīng)濟(jì)性、用樣量少等方面，都比RF方法有明顯的*性。
X射線熒光分析儀適用領(lǐng)域比較廣泛，應(yīng)用于各種礦石中鈦（Ti）到鈾（U）之間的成分快速檢測(cè)，如銅礦、鐵礦、鉛礦、鎢礦、礬礦、錫礦、鉬礦等金屬礦，5-30秒可得到滿意結(jié)果。
1．地礦：金礦、銅精料和鎳精料、螢石、長(zhǎng)石、氧化銻；
2．冶金：鎳電解液、銅陽(yáng)極泥、高冰鎳中的貴金屬、金銀首飾、鑄鐵、軸承；
3．化工：柴油中的硫含量，各種催化劑，陶瓷釉藥。
X射線熒光分析儀靈敏度高：
采用了高靈敏度、高計(jì)數(shù)率的硅漂移（SDD）檢測(cè)器；
采用特殊的二次全反射光路使儀器在不同能量范圍都能有較高靈敏度。