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X射線熒光分析儀制備固體樣品時(shí)要注意這些
閱讀：740 發(fā)布時(shí)間：2018-8-27
X射線熒光分析儀通過(guò)位置精度較高的自動(dòng)樣品臺(tái)和高靈敏度性能，X射線熒光分析儀可以對(duì)微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對(duì)電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)測(cè)量。
X射線熒光分析儀能快速掃描，憑借zui大150萬(wàn)CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量，以及借助zui大250mm×200mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100mm×100mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。
X射線熒光分析儀不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)行醫(yī)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時(shí)，X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過(guò)程控制分析等方面S選儀器之一。
X射線熒光分析儀制備固體樣品時(shí)要注意：樣品的冷卻速度。當(dāng)樣品化學(xué)組成相同由于熱過(guò)程不同測(cè)得的X射線強(qiáng)度不同，含C量高的鋼鐵樣品這種現(xiàn)象尤為突出。冷卻速度不一致時(shí)，對(duì)輕元素C、Mg、Si、P、S等存在很大影響；因此，要求制作校準(zhǔn)曲線的樣品和分析樣品的熱處理過(guò)程要保持一致。此外，還和元素在基體金屬中的溶解度有關(guān)，元素的低固熔性會(huì)影響金屬的均勻性，快速冷卻能形成細(xì)晶粒的金相結(jié)構(gòu)，而大顆粒晶粒的邊界容易發(fā)生偏析和不均勻性。