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產(chǎn)品簡介
日本電子二手掃描電鏡JSM分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
詳細介紹
日本電子二手掃描電鏡：主要特長
電子光學系統(tǒng) JSM是株式會社升級版機型，集合了分析掃描電鏡精髓功能，結構緊湊、節(jié)省空間，分辨率高。
操作舒適快捷 JSM-IT200A擁有非常直觀的操作系統(tǒng)，即使沒有經(jīng)驗的用戶也可進行操作高品質(zhì)的SEM圖像，以及高效率元素分析?？芍С植僮饔|摸屏。
安裝的靈活性 節(jié)省空間，安裝方便。一個電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。
日本電子二手掃描電鏡(一) 主要性能 |
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二次電子圖像分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
背散射電子模式分辨率 | 4.0nm@30KV |
放大倍數(shù) | ×5~×300,000（底片倍率） ×14~×839,724（顯示器倍率） |
探測器 |
二次電子探測器
半導體型背散射電子探測器(技術) |
圖像模式 |
二次電子圖像
REF像
成份像 (背散射電子圖像)
形貌像 (背散射電子圖像)
立體像 (背散射電子圖像) |
實時圖像顯示 |
雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示 |
加速電壓 | 0.5KV ~ 30KV |
探針束流 | 1pA ~ 0.3uA |
(二) 電子光學系統(tǒng) |
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燈絲 | 工廠預對中鎢燈絲 |
電子槍偏壓 | 無縫式自給偏壓, 連續(xù)調(diào)整 |
電子槍合軸 | 自動合軸 |
燈絲加熱 | 自動加熱 |
聚光透鏡 | 變焦聚光透鏡系統(tǒng) – 技術 |
物鏡 | 超級錐形物鏡 |
物鏡光闌 | 1孔固定，可在X和Y方向微調(diào) |
聚焦 | 自動/手動聚焦 |
像散 | 自動/手動消像散 |
像散存儲器 | 標準配置，自動/手動補償像散 |
圖像移動 | X-Y , ±50um |
(三) 樣品臺 |
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樣品臺類型 | 全對中樣品臺 |
Traverse 行程
| X : 80mm; Y : 40mm; Z : 5 ~ 48mm; 傾斜 T: -10 ~ +90° 旋轉 R: 360°連續(xù)endless |
Maximum Specimen Size *樣品尺寸 | 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted 可裝直徑150mm高度為48mm的樣品 |
Maximum Size of Observation *觀察視野 | 127mm diameter 直徑127mm |
Image Display (四) 圖形顯示 |
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顯示像素 | 640×480,1280×960,2560×1920,5120× |
圖像處理 |
平均值, 灰度修正, 反差增強, 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數(shù)碼變焦 |
文件存儲格式 | BMP, TIFF, JPEG |
Operation System (五) 操作系統(tǒng) |
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PC 計算機 | OS : Windows 10 (英語版) 觸摸屏式臺式電腦 |
(六) 測量功能 |
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平行線間距測量 |
垂直, 水平, 對角 |
2點之間距離測量 |
任意2點間距離 |
圓的測量 |
直徑
2個圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能) |
角度測量 |
角度 |
面積測量 |
圓和多角形 |
計數(shù) |
顆粒計數(shù) |
(七) 真空系統(tǒng) |
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真空度 |
高真空模式 1×10-4Pa |
抽真空時間 | 3 min
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真空泵系統(tǒng) |
一個分子泵, 一個機械泵 |
(七) 安全裝置 |
斷電,斷水,泄壓,漏電保護 |
(八) 自動功能 |
自動電子槍控制,自動聚焦,自動消像散,自動反差和亮度 |
(九) 擴展接口 | EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機、Probe Current Detector束流監(jiān)視器 |
(十)能譜儀主要性能 |
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探測器 |
電制冷方式Box SDD 探測器 – 不用液氮 |
探頭有效掃描面積 | 25 mm2 |
探測器移動 | Fixed 固定 |
分辨率 | 130eV or less (ICR 5,000 cps or less) |
元素分析范圍 | Be(4) to U(92) 鈹 至 鈾 |
窗口 |
抗大氣壓的超薄窗 |
取出角 | 35°（WD：10mm） |
制冷方法 | Peltier cooling |
標準搭載功能 | 定性分析 定量分析 活區(qū)面分析 點分析 束流追蹤 |