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ROHS測(cè)試儀EDX:X射線熒光分析法，測(cè)定方法：能量色散型，測(cè)定對(duì)象：固體、液體、粉末，測(cè)定范圍：11Na~92U，樣品室尺寸：大300（W）x275（D）x約100（H）mm（但是不包括R部分）

ROHS測(cè)試儀EDX:滿足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用

■電子·電氣 ·RoHS指令、無(wú)鹵素等篩選分析 ·半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽(yáng)能電池等各種薄膜分析 ■汽車(chē)·機(jī)械 · 應(yīng)對(duì)ELV指令的篩選分析 · 各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測(cè) ■鋼鐵·非金屬 · 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析 · 爐渣的組成分析 ■礦業(yè) · 選礦工藝的成色鑒別分析 ■窯業(yè) · 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析 ■石油·石油化學(xué) · 油中硫元素的分析 · 潤(rùn)滑油中各種添加元素及混入元素的分析

■化學(xué)工業(yè) ·無(wú)機(jī)·有機(jī)原料和產(chǎn)品分析 ·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析 ■環(huán)境 · 土壤、排水、焚燒灰、過(guò)濾、PM2.5等成分分析 ■醫(yī)藥 · 合成時(shí)的殘留催化劑分析 · 原藥中不純物分析、異物分析 ■農(nóng)業(yè)·食品 · 土壤、肥料、植物的分析 · 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析 ■其它 · 考古學(xué)樣品及寶石成分分析 玩具·日用品中有害重金屬元素測(cè)定等

ROHS測(cè)試儀EDX裝置規(guī)格

型號(hào)規(guī)格 EDX-7000 EDX-8000 測(cè)定原理 X射線熒光分析法 測(cè)定方法 能量色散型 測(cè)定對(duì)象 固體、液體、粉末 測(cè)定范圍 11Na~92U 6C~92U 樣品室尺寸 大300(W)x275(D)x約100(H)mm(但是不包括R部分) 大樣品重量 5kg(使用樣品轉(zhuǎn)臺(tái)時(shí)200g/樣品，總重量2.4kg) X射線發(fā)生部 X射線管 Rh靶 電壓 4~50kV 電流 1~1000uA 冷卻方式 風(fēng)冷(附風(fēng)扇) 照射面積 1、3、5、10mmΦ：4種自動(dòng)切換 1次濾光片 5種(含OPEN為6種)自動(dòng)切換 檢測(cè)器 類型 硅漂移檢測(cè)器(SDD) 液態(tài)氟供給 不要(電子制冷) 樣品室 測(cè)定環(huán)境 大氣、真空*1、氦氣*2 樣品交換 12位樣品轉(zhuǎn)臺(tái)*1 樣品觀察 CMOS圖像裝置 數(shù)據(jù)處理部 內(nèi)存 2GB以上(32位)、4GB以上(64位) HDD 250GB 光學(xué)驅(qū)動(dòng) 多媒體光驅(qū) OS Windows 7 (32位/64位) 軟件 定性分析 測(cè)定、解析軟件 定量分析 工作曲線法、共存元素校正 FP法、薄膜FP法、背景FP法 匹配軟件 強(qiáng)度/含量 更多功能 自動(dòng)校正功能(能量校正、半高寬校正) 儀器狀態(tài)跟蹤功能 √ 分析結(jié)果制表功能 √ 環(huán)境設(shè)置 溫度 10~30℃(溫度變化2℃/hr以內(nèi)、溫度變化幅度在10℃以下) 相對(duì)濕度 40~70%(但不得有結(jié)露) 電源 AC100V~240V±10%、帶地線插座 主機(jī)尺寸 460(W)x590(D)x360(H)mm 主機(jī)重量 約45kg

 

檢測(cè)元素范圍

·遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標(biāo)準(zhǔn) 遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。 ● 安全功能 ● 用戶管理功能 ● 操作日志，逐位跟蹤日志的生成功能 ● PDF生成功能 ● 驗(yàn)證功能 安全功能 通過(guò)ID/密碼進(jìn)行用戶認(rèn)證，對(duì)具有權(quán)限的用戶 開(kāi)放操作履歷記錄、界面鎖定等功能。 逐位跟蹤日志的生成功能 可以生成分析裝置設(shè)定更改履歷和用戶的操作履歷等跟蹤日志。

shimadzuEDX-7000/800，島津ROHS測(cè)試儀，島津ROHS檢測(cè)儀，島津ROHS分析儀，島津EDX-720-EDX-GP-EDX-LE-EDX-7000-EDX-8000. 心怡科技一直為客戶提供好的服務(wù)和問(wèn)題上的解決。

 

EDX-7000/8000 Energy Dispersive X-Ray Florescence Spectrometer for RoHS Analysis

Incorporating a new high-performance semiconductor detector, high end EDX-7000/8000 spectrometers offer excellent sensitivity, resolution, and throughput for an array of applications, from general screening analysis to advanced materials research.

The EDX-7000 provides a measurement range of 11Na to 92U, while the EDX-8000 has a range of 6C to 92U. Both systems are equipped with five primary filters that enable highly sensitive analysis of trace elements and a sample observation camera for precise sample positioning. A large sample chamber accommodates virtually any sample type small or large, including thin films, powders, slurries, emulsions and liquids.

• Ceramics, Metals, Mining
• Clinical researchs, Forensic
• Automobiles and machinery
• Electrical/electronic materials (RoHS/ELV screening)
• Petrochemicals, Chemicals
• Environment