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三維云紋干涉儀：該設(shè)備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場（面內(nèi)的U,V場和離面的W場）。在電子封裝領(lǐng)域，該設(shè)備是重要的失效分析手段。
立式光彈測試儀：光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器，簡稱光彈儀。...
臥式光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器，簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以通...
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