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輕松檢測85° 尖銳角
 有尖銳角的樣品（剃刀） | 激光共焦顯微鏡采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統(tǒng)（能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量。 |
 LEXT 物鏡 |  使用物鏡時的zui小象差 |
高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
 (MPLAPON50XLEXT) 高度差標準 類型B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度測量中的檢測 | 由于采用405 nm 的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡，OLS4100 達到了0.12 μm 的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的0.8 nm 的光柵讀取能力和軟件算法，例如奧林巴斯開創(chuàng)的I-Z 曲線（請參閱第23 頁），OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。 |
克服反射率的差異
 鉆石電鍍工具 物鏡：MPLAPON50XLEXT | OLS4100 采用了雙共焦系統(tǒng)，結合高靈敏度的探測器，那些具有不同反射率材料的樣品，也能在OLS4100 上獲得鮮明的影像。 |
適用于透明層
多層模式
LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區(qū)域，并將各層設為焦點，這樣即可實現(xiàn)對透明樣品上表面的觀察和測量，而且也可以對多層樣品的各層進行分析和厚度測量。
觀察／測量透明材料的各個層
多層模式可實現(xiàn)對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量。即使在玻璃基片上覆有一層透明樹脂層，也可測量出各層的形狀和粗糙度以及表面覆膜的厚度。
 | 通常表示測量儀器的測量精度的，有2 個指標："正確性"，即測量值與真正值的接近程度，和"重復性"，即多次測量值的偏差程度。OLS4100 是業(yè)界*同時保證了"正確性"和"重復性"的激光掃描顯微鏡。 |
 | OLS4100 從物鏡制造到成品全部在奧林巴斯工廠內完成，并按照一系列嚴格的標準進行全面的檢驗并確保產品的質量后方才出廠 。交付產品時，由選拔出來的技術人員，在實際使用環(huán)境中執(zhí)行校正和zui后的調整。 |
高度測量  可以測量輪廓截面上任意兩點之間的高低差異。 | 表面粗糙度測量  可以測量線粗糙度，以及平面整體的面粗糙度。 |
面積／體積測量  根據(jù)設置在輪廓截面上的任意閾值，可以測量其上部或下部的體積。 | 粒子測量 (選購件)  可以通過分離功能使粒子自動分離，設置閾值，根據(jù)ROI 設置檢測范圍。 |
幾何測量  可以測量影像上任意兩點之間的距離。還可以測量任意區(qū)域的面積。 | 膜厚測量 (選購件)  可以根據(jù)測出的對焦位置，測量透明介質的膜厚。 |
自動尋邊測量 (選購件)  可以自動尋邊，測量線寬和圓，減少人為的測量誤差。 |
工作流程解決方案，實現(xiàn)了優(yōu)秀的圖像分析性能
對于粒子尺寸分析或非金屬夾雜物級別的測量，可以使用OLYMPUS Stream 顯微圖像軟件，該軟件可以從OLS4100 直接上傳。
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LEXT OLS4100 激光共焦顯微鏡參數(shù)
作為表面粗糙度測量的新標準，奧林巴斯開發(fā)了LEXT OLS4100。對LEXT OLS4100 進行了與接觸式表面粗糙度測量儀同樣的校正，并在LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數(shù)和濾鏡。這樣，對于使用接觸式表面粗糙度測量儀的用戶來說，能得到操作性和互換性良好的輸出結果。另外，還搭載了粗糙度模式，可以用自動拼接功能測量樣品表面直線距離zui長為100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數(shù)，因此具有相互兼容的操作性和測量結果。
| 截面曲線 | Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr |
| 粗糙度曲線 | Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75 |
| 波動曲線 | Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr |
| 負荷曲線 | Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 |
| 基本圖形 | R, Rx, AR, W, , AW, Wte |
| 粗糙度 (JIS1994) | Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp |
| 其他 | R3z, P3z, PeakCount |
適應下一代參數(shù)
OLS4100 激光共焦顯微鏡具有符合ISO25178 的粗糙度（3D）參數(shù)。通過評估平面區(qū)域，可以進行高可靠性的分析。
| 振幅參數(shù) | Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa |
| 功能參數(shù) | Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp |
| 體積參數(shù) | Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc |
| 橫向參數(shù) | Sal, Str |
• LEXT OLS4100 與表面粗糙度測量儀的結果相兼容。
微細粗糙度
使用接觸式表面粗糙度測量儀，無法測量比探針的針尖直徑更細微的表面輪廓。而OLS4100 有著微小的激光光斑直徑，所以能夠對微細形狀進行高分辨率的粗糙度測量。
非接觸式測量 使用接觸式表面粗糙度測量儀測量柔軟的樣品時，樣品容易受到探針損傷而變形。另外，帶有粘性的樣品會粘在探針上，無法得到正確的測量結果。而非接觸式的激光顯微鏡OLS4100，不會影響樣品的表面狀態(tài)，可以準確的測量樣品的表面粗糙度。 | |
 高分子薄膜3D 影像（上）和粗糙度測量結果（左） |  |
柔軟的樣品
帶有粘性的樣品
微米級特征的測量
使用接觸式表面粗糙度測量儀，其探針無法進入微米級的區(qū)域，所以不能對這些區(qū)域的特征進行測量。而OLS4100 可以正確定位，能輕松測量出特定微小區(qū)域的粗糙度。
 焊線 |  |
激光共焦顯微鏡三種類型的綜合影像
 真彩3D 影像 | LEXT OLS4100 可以同時獲取三種不同類型的影像信息：真彩3D 影像、激光全焦點3D 影像和高度信息影像。 |
 激光全焦點3D 影像 |  高度信息影像 |
再現(xiàn)自然色 OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相裝置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以與高級的激光共焦顯微鏡相媲美。 | |
 2D 彩色影像（紙張上的墨點、物鏡20x） |  3D 彩色影像（紙張上的墨點、物鏡20x） |
微分干涉觀察是超越了激光共焦顯微鏡的分辨率、可以觀察到納米以下微小表面輪廓的觀察方法。LEXT OLS4100 通過安裝在物鏡上方的DIC 分光棱鏡，將照明光橫向分為兩束光線來照射樣品。獲取由樣品直接反射回來的兩束光線的差，生成明暗對比，從而實現(xiàn)對微小凹凸的立體觀察。LEXTOLS4100 擁有DIC 激光模式，即使是低倍率的動態(tài)觀察，也能得到接近電子顯微鏡分辨率的影像。
 無DIC 的激光影像（高分子薄膜） |  有DIC 的激光影像（高分子薄膜） | |
 無DIC 的激光影像（5x 物鏡） 高度差標準 類型 B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany |  有DIC 的激光影像（5x 物鏡） 高度差標準 類型 B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 實際高度：6 nm |
OLS4100 的高動態(tài)范圍（HDR）功能結合了多張以不同曝光率獲取的光學顯微鏡影像，并且分別控制著亮度、對比度、紋理和飽和度，因此HDR 可以以寬動態(tài)范圍處理影像。OLS4100 尤其可以對紋理不明顯的樣品的彩色影像進行清晰地觀察。
 無HDR 的彩色影像 （致密的織物、物鏡20x、變焦1x） |  有HDR 的彩色影像 （致密的織物、物鏡20x、變焦1x） |
 算法 | |
 復合減震機構 | 為了排除來自外部的影響，穩(wěn)定測量和成像，OLS4100 機座內置了由螺旋彈簧和阻尼橡膠組成的"復合減震機構"以穩(wěn)定操作環(huán)境。所以，可以把OLS4100 放在普通的桌子進行測量作業(yè)，不需要的防震平臺。 |
使用LEXT OLS4100，只需將樣品放置在載物臺上之后即可立即開始觀察／測量。由于采用了簡易的三步流程——成像、測量和報表——即使用戶不熟悉激光共焦顯微鏡，也可以快速掌握測量的流程。
宏觀圖功能
OLS4100 激光共焦顯微鏡的宏觀圖功能可以以低倍率顯示大范圍影像，并在宏觀影像上顯示一個矩形觀察標記。該視場可以通過拼圖設置為傳統(tǒng)視場的441 倍。當配合電動六孔物鏡轉換器時，宏觀圖功能可以對載物臺移動和倍率更改實現(xiàn)平滑、便捷的一鍵操作?？?br />以精確預設齊焦和確定物鏡的中心，并可通過一鍵移動載物臺和調整倍率進行同步。
快速的宏觀圖拼接
 | 掃描大面積區(qū)域時有兩種拼接方法可用：獲取實時影像時的手動模式和快速獲取影像時的自動模式。操作非?？焖俸唵?mdash;—2D 拼接只需一鍵操作即可開始，并且可立即獲得大面積的拼接影像。自動模式下有五級拼接尺寸可用，分別為：3×3、5×5、7×7、9×9 和21×21。對于影像上不需要的部分，可以使用簡單的鼠標或控制桿操作手動刪除。 |
自動3D 影像獲取
傳統(tǒng)的3D 掃描需要復雜的設置，這對新手來說非常困難。LEXT OLS4100 采用了全新的智能掃描模式，即使是初次使用的用戶也只需一鍵操作即可快速獲取3D 影像。除了上下限的設置，系統(tǒng)也會根據(jù)要獲取的影像自動設置合適的亮度。這讓即使是初次使用的用戶也能獲得精確的高度測量和優(yōu)質的影像。
激光共焦顯微鏡 3D 成像
| 自動亮度控制 | |
 | |
| 平面上的亮度控制 | 一定高度范圍內的亮度控制。 |
大大縮短了獲取時間
更快的掃描速度
新的超快模式獲取掃描影像的速度是傳統(tǒng)快速模式的2 倍，約是精細模式的9 倍。因此，對于那些需要非常精細的Z 軸移動和*的放大倍率的樣品，該模式就非常地適用，例如對刀具的*進行檢測。
相同時間內獲取的影像數(shù)量：
實際的掃描時間根據(jù)所用倍率和Z 獲取范圍而有所不同。
只在所需區(qū)域進行高速獲取
OLS4100 還配備了帶寬掃描模式，用于測量有限的目標區(qū)域，測量性能比傳統(tǒng)模式快1/8。
 全局掃描獲取 |  帶寬掃描獲?。?/8） |
從大范圍拼接影像中目標區(qū)域
在宏觀圖中，要觀察的區(qū)域可以從大范圍的視圖中進行。在自動模式中，通過設置zui多625 幅影像的矩形拼接尺寸，可以自動生成區(qū)域圖，所需的時間大約只需要通常的一半。下一步，在區(qū)域圖上所需的影像并立即開始觀察。
 拼接區(qū)域：方形（21×3）63 片 |  拼接區(qū)域：圓形（3 點） |
手動所需的影像區(qū)域
在實時模式中，通過在屏幕上跟蹤所需的區(qū)域，可以手動選擇要觀察的區(qū)域。當觀察的樣品具有不規(guī)則的形狀時，該功能非常實用。
快速影像拼接
要使用智能掃描模式獲取影像時，只需一鍵操作即可。由于智能掃描會自動調整Z 軸方向的設置，Z 軸方向的影像獲取可以僅局限在所需的區(qū)域，因此可以在進行大范圍大功率觀察時節(jié)省很多時間。
 智能掃描模式 |  傳統(tǒng)獲取模式 |
OLS4100 激光共焦顯微鏡在測量后可使用一鍵操作創(chuàng)建報表，而且使用編輯功能可以定制各個報表模板。將測量結果復制和粘貼到Word 或表格應用程序也非常簡單，就像從數(shù)據(jù)庫取回所需的影像和報表一樣。
為用戶設計的詳細的向導功能取消了冗長的培訓，讓新手也能快速簡單地進行操作。
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