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JK-600S高溫電學(xué)探針熱臺

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探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。

1、 可以搭配阻抗分析儀，高阻計，電化學(xué)工作站，數(shù)字源表進行功能材料電學(xué)的相關(guān)測試

2、 軟件開發(fā)可以進行高溫介電溫譜測試、電阻，電阻率測試，熱電，熱釋電，TSDC等測量功能。

產(chǎn)品特點：

溫度范圍：RT~600℃

溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

升降溫速度：0~30℃/min

氣密腔室設(shè)計，可升級真空

詳細參數(shù)一覽表：

可進行多種電學(xué)功能測試

1、 高溫介電溫譜測試

2、 絕緣電阻測試

3、 四探針電阻率測試

4、 熱電測試儀，TSDC熱刺激電流測試，熱釋電測試

第一、介電溫譜測試圖

第二、高溫介電測試

模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;

測量參數(shù): s介電常數(shù)、 (E'、t"介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實部與虛部)、Y導(dǎo)納、Y.Y"(導(dǎo)納實部與虛溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、最大溫度、測量等待時間等;

測量頻率:軟件可設(shè)置測試的頻率;

數(shù)據(jù)處理:測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測量曲線可保存。

                               高溫介電測試

第三、測量曲線（電阻、熱釋電、TSDC測量)

電阻測量模式:

1、電阻測量模式:

2、連續(xù)測量模式:升降溫連續(xù)采集。2、保持測量:指達到溫度后進行測量采集TSDC測量:

3、通過液氮進行低溫試驗。

熱釋電參數(shù)測試

                         TSDC熱刺激電流測試

電阻測試