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高低溫介電溫譜測試系統(tǒng)(-190℃-1000℃)
  • 高低溫介電溫譜測試系統(tǒng)(-190℃-1000℃)

貨物所在地:北京北京市

地: 北京

更新時間:2024-10-29 17:00:48

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GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量,并參考美國A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)

GWJDN-4型高低溫介電溫譜測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:四通道,溫度:-190-1000℃,120MHZ

 

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量,并參考美國A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線??蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點:

1、   提供多方位的測量功能和多元化的價位, 擁有更出色的測量精度:

匹配阻抗分析儀是采用當(dāng)前的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

2、      采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置。自動升溫降溫,測試功能強大

3、   四通道同時測量,提高效率,增加對比測試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

溫介電頻譜測試功能;變溫阻抗測試功能;掃頻測試功能;

軟件:采用C#語言編寫,可視化程度高,自動測試,同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù),并圖形化。

4、         專用高頻測試線纜,更適合高頻測量測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測試夾具,同時測試線采用高頻測試專用測試線,設(shè)計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。

5、      可以實現(xiàn)多種材料不同功能的測試,高溫介電,電阻測試等

探測采用高精度鉑金電極,抗干擾能力強,測量精度高

高溫爐加熱均勻,可實現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線,多種物理參數(shù)可實時測試

專用的分析和測試軟件,可以自行定義,保存數(shù)據(jù)

 

介電溫譜測試系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍: -190℃-1000℃

2、測溫精度: 0.1℃

3.升溫速度: 1—20℃/min

4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口: RS-485

8、電極材質(zhì): 鉑銥合金

9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

10、下電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極:  帶保護電極,消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制: 帶程序和手動控制,可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉,測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm

17、軟件功能:自動分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實驗方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案:    提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標準極化樣品:8片(10mm*1.5mm)

20、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具

23、測試頻率:20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率:1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量:多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

 

 

 

 


測試儀器:

高溫介電測試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀,其他品牌型號也可定制開發(fā)

Agilent E4990A

·         五種頻率選擇;20 Hz 10/20/30/50/120 MHz,可升級

·         ±0.08%(典型值 ±0.045%)基本阻抗測量精度

·         25Ω m 40 MΩ 寬阻抗測量范圍(10% 測量精度范圍)

·         測量參數(shù):|Z||Y|、θ、R、X、GB、LC、DQ、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

·         內(nèi)置直流偏置范圍:0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

·         10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

·         數(shù)據(jù)分析功能:等效電路分析、極限線測試


Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測試頻率范圍(40hz110mhz),具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q/d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平范圍可用于在實際工作條件下評估器件。測試信號電平范圍為5mv1vrms200ua20marms,直流偏置范圍為0v至±40v0ma至±100ma。*校準和誤差補償功能避免了進行夾具內(nèi)器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強大工具。電路設(shè)計和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。


Agilent E4980A


 

基本精度為0.1%

測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手

  電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

  30 ms超高速測試速度

  等效Rdc 可高度精準四線式測試,量測到0.01mΩ

  0.05%基本精確度

  可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias

  可將測試波形儲存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能

  20Hz~120MHz,七種機型,可隨時升級 ,最高升級到120MHz

  直覺的用戶操作接口,USBLAN、GPIBHANDLER

  可使用鼠標及鍵盤操控,也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

  具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺







Tonghui TH29系列


測試頻率:20Hz-1MHz,分辨率:最高0.1nHz

基本精度:0.05%

測試速度:最快5.6ms/

測試原理:自動平衡電橋

高穩(wěn)定性和一致性:高達15個測試量程配置



 

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