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更新時(shí)間:2023-12-21 18:07:35
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BKTEM-D1熱電性能分析系統(tǒng)
關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率, 電阻率,V-1裝置
產(chǎn)品介紹:
BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是我國(guó)熱電材料的設(shè)備,是國(guó)家材料計(jì)
劃中zui前沿裝備,是我國(guó)科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來(lái)的熱電材料
測(cè)試儀,其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀,不僅可以用于塊體材
料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試,是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)
備。
對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
一、適用范圍:
1、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
5、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,過(guò)程自動(dòng)控制,界面友好。
6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.
二、技術(shù)特點(diǎn):
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題,靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
三:主要技術(shù):
測(cè)量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量:1個(gè),2個(gè),3個(gè) 可選
控溫精度:0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃)
測(cè)量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法
測(cè)量范圍:塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率:塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm
測(cè)量精度:塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%
樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng),薄膜材料:≥50 nm
熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm
電 流: 0 to 200 Ma
氣 氛:0 to 160 mA
加熱電極相數(shù)/電壓:單相,220V,
夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W
溫度檢測(cè):采用J、K型熱電偶
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)