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BKTEM-Dx-熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀
  • BKTEM-Dx-熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀

貨物所在地:北京北京市

地: 北京

更新時間:2023-12-21 18:07:45

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產(chǎn)品介紹:
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的設(shè)備,是國家材料計
劃中Z前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計出來的熱電材料
測試儀,其測試性能遠超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,特別是其對熱電材料π對
與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的
n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。(國內(nèi)外*)。

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀,熱電材料克系數(shù)測試儀

關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,n或p型熱電材料π對熱電轉(zhuǎn)換效

產(chǎn)品介紹:

 BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的設(shè)備,是國家材料計

劃中zui前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計出來的熱電材料

測試儀,其測試性能遠超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,特別是其對熱電材料π對

與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的

n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。(國內(nèi)外*。

對于熱電材料的研究,熱電性能測試是*的試驗數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點如下:

該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

一、測試原理

原理:(1)通過測量派對或器件開路電壓和短路電流求得派對或器件的zui大輸出功率。(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計測量通過熱電派對或器件的熱流量,其溫差電熱流量計的工作原理是:當(dāng)對溫差電制冷片通電時,其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過校準(zhǔn)的通過熱量計的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計的熱流量,即為通過派對或器件的熱流。(3)將zui大輸出功率與通過的熱流相比求得zui大轉(zhuǎn)換效率。

一、適用范圍:

1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。(國內(nèi)外*)

2、精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

4、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。

二、技術(shù)特點:

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

·熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的np型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。

  • 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
    •  
  • 每次可測試1-3個樣品.
  • 采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
  • 具備真空和Ar氣保護兩種工況選項。

四、主要技術(shù)參數(shù):

 

BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

測量溫度

室溫-600℃

室溫-600℃

室溫-600℃

同時測試樣品數(shù)量

1

2

3

控溫精度

0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)

熱流量測量

采用溫差電熱流計測量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流

測量原理

塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測量范圍

塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率

塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm

測量精度

塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

樣品尺寸

方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長

熱電偶導(dǎo)距

≥6 mm

  

0 to 160 mA

  

減壓He(具備真空和Ar氣保護兩種工況選項,真空工況下,真空度:≤6×10-2 Pa;)

加熱電極相數(shù)/電壓

單相,220V,

熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率

0.01?W~10W

夾具接觸熱阻

≤0.05 m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理

 

 

一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖

 

 

圖2 雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖

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