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貨物所在地：北京北京市
更新時間：2024-07-15 10:16:43
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用于CR\DR低密度分辨力、空間分辨力、射野與光野*性以及均勻性檢測。
1、CR/DR綜合檢測模體材料：99%以上純鋁
2、CR/DR綜合檢測模體厚度：20mm
3、CR/DR綜合檢測模體孔徑：10mm
4、低對比度分辨力測量范圍： 0.35%至16%
5、數(shù)字影像綜合測試卡視野刻線zui小分度值：2mm
6、數(shù)字影像綜合測試卡中心及邊界共有5個均勻性測試點標識。
7、空間分辨力測試卡
（1）、等效鉛當量0.1mm鉛
（2）、分辨力測試范圍：（0.6～5.0）LP/mm
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