目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測(cè)試儀>>變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)>> BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2024-10-21 13:56:17瀏覽次數(shù):2228評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子,航天,電氣 |
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BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)(高低溫光譜系統(tǒng))
BWGP-2000變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況,該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品譜與參比譜的比值,會(huì)降低原始光譜的信噪比,因此需要光譜儀具有較高的信噪比;同時(shí)為了獲取更多信息,需要光譜儀具有寬泛的光譜范圍。而熒光強(qiáng)度較弱,屬于弱光信號(hào),為了探測(cè)熒光光譜,一般需要高靈敏度的光譜儀。需要對(duì)微米尺度的光譜信號(hào)進(jìn)行采集,這需要光譜儀具有微弱光信號(hào)的檢測(cè)能力。BWGP-2000是一款適合多種科研應(yīng)用的光譜儀。
一、產(chǎn)品主要用途:
1、 用于高低溫下半導(dǎo)體發(fā)光波長(zhǎng)在線檢測(cè)
2、 用于高低溫下手機(jī)面板透過(guò)率檢測(cè)
3、 用于高低溫下實(shí)驗(yàn)室微區(qū)樣品透反射率檢測(cè)
4、 用于高低溫下薄膜透過(guò)率檢測(cè)其他化合物檢測(cè)
5、 用于高低溫下納米復(fù)合材料上轉(zhuǎn)換熒光中的應(yīng)用
6、 用于高低溫下測(cè)試物體的顏色檢測(cè)
7、 用于高低溫下黑硅光電探測(cè)器研究中的應(yīng)用
8、 用于高低溫下液晶顯示研究中的應(yīng)用
二、產(chǎn)品主要特點(diǎn):
1、 高低溫測(cè)試系統(tǒng)可以任意設(shè)置溫度
2、 電腦軟件自動(dòng)顯示溫度和光譜圖
3、可以靈活搭配不同類型的光譜儀
二、主要技術(shù)參數(shù):
1、溫度:-150℃-600℃
2、探測(cè)范圍:200~1100nm
3、波長(zhǎng)分辨率:0.7 nm
4、光學(xué)分辨率:0.12nm (FWHM)
5、探測(cè)器: Hamamatsu,S10420 背照式
6、動(dòng)態(tài)范圍: 6,000:1
7、信噪比: 800:1 (飽和時(shí))
8、雜散光: < 0.1% @ 600nm
9、光纖接口: SMA905
10、數(shù)據(jù)傳輸: USB-B,支持 USB2.0 通訊協(xié)議,480Mbps 傳輸速度
11、外部觸發(fā): 4 種觸發(fā)模式
12、測(cè)溫精度:0.1℃
13、外形尺寸:L360mm*W370mm*H510mm
14、凈 重:22KG
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)