DEMC 1000差分電遷移率分級(jí)器

       DEMC 1000差分電遷移率分級(jí)器被廣泛的應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)測試，同時(shí)也可用于對液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米粒徑測量。Palas DEMC有兩個(gè)版本可用。短分級(jí)柱（1000型）的版本適用于4至600 nm的尺寸范圍。DEMC尺寸分級(jí)器根據(jù)其電遷移率選擇氣溶膠顆粒并將其導(dǎo)至出口（可參考ISO 15900定義標(biāo)準(zhǔn)）。在分析多分散顆粒源時(shí)，DEMC差分電遷移率分級(jí)器用于獲得一定尺寸的非常窄范圍內(nèi)（單分散）納米顆粒的粒度分布。DEMC的準(zhǔn)確尺寸確定和可靠性能非常重要，尤其是對于校準(zhǔn)設(shè)置。通過在觸摸屏上直接輸入尺寸（nm）或使用箭頭按鈕增加和減小尺寸。

       DEMC 1000差分電遷移率分級(jí)器可用于Palas SMPS系統(tǒng)的組件，可以連續(xù)且快速地掃描氣溶膠的粒徑分布。最短可在30秒內(nèi)或每十進(jìn)制最多64個(gè)尺寸的通道中執(zhí)行掃描。用戶使用圖形化用戶界面控制DEMC，該界面提供測量值的線性和對數(shù)顯示，以及集成數(shù)據(jù)記錄器的數(shù)據(jù)管理。該軟件提供復(fù)雜的數(shù)據(jù)評估（各種統(tǒng)計(jì)和平均值）及導(dǎo)出功能。

差分電遷移率分級(jí)器DEMC 1000優(yōu)點(diǎn)：

       用戶可以在型號(hào)允許的尺寸范圍內(nèi)選擇任何尺寸。

       DEMC 可以與多種計(jì)數(shù)器并用組成SMPS（掃描遷移率粒度儀）。

       連續(xù)快速掃描測量原理

       圖形化顯示測量值

       使用7 英寸觸摸屏和GUI 進(jìn)行直觀操作

       集成數(shù)據(jù)記錄儀

       低維護(hù)

       功能可靠

       減少您的運(yùn)營費(fèi)用

差分電遷移率分級(jí)器DEMC 1000工作原理

       氣溶膠通過進(jìn)樣口導(dǎo)入DEMC柱，沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流，確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準(zhǔn)。該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣（通常為空氣），比氣溶膠的體積大，且在閉環(huán)中連續(xù)循環(huán)。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率，從而決定尺寸分類器的分辨率。在內(nèi)部和外部電極之間施加電壓產(chǎn)生徑向?qū)ΨQ電場。內(nèi)電極帶正電，末端有一個(gè)小縫隙。通過平衡每個(gè)粒子上的電場力及其在電場中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力，帶負(fù)電顆粒轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率，一些顆粒會(huì)通過小縫隙離開DEMC。這些具有相同電遷移率的分類顆粒可用于下游分析。如果DEMC是作為SMPS系統(tǒng)的組件使用的，則電

       壓和電場將連續(xù)變化。不同遷移率的顆粒離開DEMC，并由納米粒子計(jì)數(shù)器和冷凝粒子計(jì)數(shù)器（如Palas UF-CPC）或氣溶膠靜電計(jì)（如Palas UF-CPC）連續(xù)測量計(jì)數(shù)。方便實(shí)用的軟件提供多數(shù)據(jù)組合（如電壓，粒子數(shù)等）并取得粒度分布數(shù)據(jù)如圖3所示

差分電遷移率分級(jí)器DEMC 1000用戶界面和軟件：

       基于持續(xù)的客戶反饋，用戶界面和軟件的被設(shè)計(jì)成可以進(jìn)行直觀的操作、實(shí)時(shí)控制并顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。此外，通過集成的數(shù)據(jù)記錄器，完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持，該軟件可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)管理功能。測量數(shù)據(jù)有多種形式顯示和評估。DEMC軟件和硬件也支持其他制造商使用納米粒子計(jì)數(shù)器。

差分電遷移率分級(jí)器DEMC 1000技術(shù)參數(shù)

差分電遷移率分級(jí)器DEMC 1000應(yīng)用領(lǐng)域：

       冷凝粒子計(jì)數(shù)器（CPC）的校準(zhǔn)單分散顆粒源

       SMPS 的系統(tǒng)組件